[发明专利]一种电路板及检测方法

说明书

本发明公开了一种电路板及检测方法，用于解决电子设备中因设置用于测量插入损耗的测试线所导致的电路板的利用率较低的技术问题。该电路板包括：第一区域，设置有至少一个元器件及用于将所述至少一个元器件进行相互连接的电路；第二区域，设置有测试线，所述测试线包括第一端和第二端，所述第一端用于与连接器相连，所述第二端为开放端；其中，当所述测试线的第一端通过所述连接器与测试设备相连时，通过所述测试设备测试所述电路板的插入损耗和/或所述测试线的阻抗。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种电路板及检测方法。

背景技术

PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)是电子设备中重要的电子部件，其可以作为电子元器件支撑体，也是是电子元器件连接的载体。目前，在PCB出厂之前通常需要对PCB的性能进行测试，主要的做法即通过在PCB中嵌入传输线来跟踪并检测输入PCB的信号的插入损耗，插入损耗越大，对传输信号的影响也就越大，传输效果越差。

目前，PCB中设置用专门用于设置检测线路的独立区域，该区域通常与PCB中用于设置其它元器件的区域隔离。而在实际应用中，使用双端检测方法检测PCB的插入损耗，为了提高测量的准确度通常需要对传输线路进行长时的跟踪测试，这样会使得用于跟踪检测的线路较长，在PCB的布线区域的面积较大，从而缩减了PCB用于布置其它电子元器件的资源空间，导致PCB的利用率较低。

发明内容

本发明实施例提供一种电路板及检测方法，用于解决电子设备中因设置用于测量插入损耗的测试线所导致的PCB的利用率较低的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供一种电路板，包括：

第一区域，设置有至少一个元器件及用于将所述至少一个元器件进行相互连接的电路；

第二区域，设置有测试线，所述测试线包括第一端和第二端，所述第一端用于与连接器相连，所述第二端为开放端；

其中，当所述测试线的第一端通过所述连接器与测试设备相连时，通过所述测试设备测试所述电路板的插入损耗和/或所述测试线的阻抗。

可选的，若所述测试设备为用于测试插入损耗的设备，当所述测试设备与所述第一端连接时，向所述测试线发送的测试信号时，所述测试信号沿所述测试线传输，并在所述第二端发生反射返回所述第一端，所述测试设备根据传输过程中所述测试信号的传输特征信息确定所述电路板的插入损耗。

可选的，所述测试信号的频率范围为(0，15GHz]。

可选的，所述连接器通过导线与测试设备相连，所述导线的宽度与所述测试线的阻抗相关。

可选的，所述导线的阻抗与所述测试线的阻抗相匹配。

可选的，所述测试线的阻抗为50欧姆。

可选的，所述测试线的长度小于等于13cm。

可选的，所述第一区域的面积大于所述第二区域的面积。

第二方面，本发明实施例提供一种检测方法，包括：

通过连接器将电路板的测试线的第一端与测试设备连接；其中，所述测试线包括所述第一端及与所述第一端相对的第二端，所述第二端为开放端；

通过所述测试设备向所述测试线的第一端发送测试信号，确定述测试信号在所述测试线中传输时的传输特征信息；其中，所述测试信号沿所述测试线传输，并在所述第二端发生反射返回所述第一端；

根据所述传输特征信息计算所述电路板的插入损耗和/或阻抗。