[发明专利]调校探针位置的测试板及测试方法在审
| 申请号： | 201710188413.0 | 申请日： | 2017-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN108663648A | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | 刘宇青;杨炜达;侯晓峰;梁国栋 | 申请（专利权）人： | 富泰华工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 习冬梅 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试区 绝缘区 调校 探针位置 测试点 测试板 测试 测试探针 导电功能 电阻 探针 包围 | ||
一种调校探针位置的测试板，包括至少一用于测试探针的测试点，该测试点包括多个具有导电功能的测试区，每一测试区与不同阻值的电阻相连接，该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区，该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区，该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区，该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开，该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一第二绝缘区相间隔开。本发明还涉及一种调校探针位置的测试方法。本发明实现简单，能够有效提高探针调校的效率。
技术领域
本发明涉及ICT(In Circuit Test,电路在线测试)领域，尤其涉及一种调校ICT治具探针位置的测试板及测试方法。
背景技术
现有技术中，当ICT测试治具上的探针偏位时，技术人员很难把握探针的偏离方向及偏离距离，因而造成相关的技术人员花费大量的时间来调校探针的位置，降低了探针调校的效率。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种调校探针位置的测试板及测试方法以解决调校探针效率低下的问题。
一种调校探针位置的测试板，包括至少一用于测试探针的测试点，该测试点包括多个具有导电功能的测试区，每一测试区与不同阻值的电阻相连接，该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区，该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区，该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区，该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开，该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一第二绝缘区相间隔开。
一种利用上述测试板的调校探针位置的测试方法，用于对一待测治具的探针的位置进行调校，该方法包括步骤：
提供一电阻测试设备，该电阻测试设备存储有一对应关系表，该对应关系表中定义有多个不同落点位置与不同阻值的对应关系；
将该电阻测试设备的负极连接端接地及将正极连接端与该待测治具的探针连接；
将该探针放置到该测试板的测试点上进行测试；
获取该电阻测试设备检测出的电阻值；
根据获取的电阻值及存储的对应关系表确定该探针在该测试点中的落点位置；
根据确定出的落点位置对该探针进行调校。
本发明通过检测与测试区相连接的电阻的阻值而确定探针落入测试区的落点位置，并根据探针在测试点中的落点位置对测试治具的探针的位置进行调校。本发明实现简单，能够有效提高探针调校的效率。
附图说明
图1为本发明一实施方式中调校探针位置的测试板的示意图。
图2为图1所述测试板中测试点的示意图。
图3为本发明一实施方式中调校探针位置的测试方法的流程图。
图4为本发明一实施方式中调校探针位置的测试方法的应用环境图。
图5为本发明一实施方式中对应关系表的示意图。
主要元件符号说明
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
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