[发明专利]一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试方法

权利要求书

1.一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试方法，其特征在于：其使用满足下述要求的剪切装置：剪切装置为刚性结构，其具体为两个中心对称结构的剪切偶即下剪切偶(1)和上剪切偶(2)二者配对组合构成，配对使用的下剪切偶(1)和上剪切偶(2)是由一个圆柱体材料切割加工而成；单个剪切偶的结构如下：紧固连接部(7)、基础部(6)、配合对正部(4)；其中，基础部(6)为圆柱体形状，紧固连接部(7)、配合对正部(4)沿基础部(6)的轴向分别布置在其两端；配合对正部(4)为沿圆柱体垂直于轴线所在某平面沿直径半剖开后剩余的半个圆柱体结构；紧固连接部(7)、基础部(6)、配合对正部(4)三者固定连接为整体的一体化结构；两个剪切偶即下剪切偶(1)和上剪切偶(2)二者配对时二者的配合对正部(4)紧密接触使得两个剪切偶共同构成圆柱体形状的结构；两个剪切偶的配合对正部(4)上设置有垂直于轴线的贯穿的长方体形样品槽(5)。

2.按照权利要求1所述广泛适用于微型样品的单剪切性能测试方法，其特征在于：剪切装置中的紧固连接部(7)设置有螺纹连接结构；剪切装置所用材料的硬度不低于600HV。

3.按照权利要求1所述广泛适用于微型样品的单剪切性能测试方法，其特征在于：样品槽(5)的宽度W和厚度B能够根据实际检测实物的尺寸来确定，一般的，W＝2～20mm，B＝1～10mm。

4.按照权利要求1所述广泛适用于微型样品的单剪切性能测试方法，其特征在于：剪切样品配合剪切装置的样品槽(5)，样品为长方体形，样品的宽度W’和样品的厚度B’均比样品槽的宽度W和样品槽的厚度B小0.1mm，即是W’＝W-0.1；B’＝B-0.1；要求剪切样品表面的粗糙度小于0.8μm，相对表面的平行度小于20μm。

5.按照权利要求1所述广泛适用于微型样品的单剪切性能测试方法，具体的剪切操作为：将两个剪切偶即下剪切偶(1)和上剪切偶(2)的紧固连接部(7)分别固定布置在电子万能试验机上，然后使得两个剪切偶的配合对正部(4)紧密接触，且应将两个剪切偶的配合对正部(4)上设置的样品槽(5)对正布置；然后向样品槽(5)中装入样品，使得样品沿长度方向的中间截面恰好处于两个剪切偶的配合对正部(4)的接触面上；然后设定应变速率，试验机作用在剪切装置上的拉力通过剪切装置转化为作用在样品上的剪切力，最后在实验机上进行相应的剪切操作并采集实验数据。

6.按照权利要求5所述广泛适用于微型样品的单剪切性能测试方法，其特征在于：所述广泛适用于微型样品的单剪切性能测试方法中，在进行样品剪切试验时，采集并处理实验数据，最后可以得出工程剪切应力-滑移应变曲线；工程剪切应力和滑移应变的计算公式如下：

工程剪切应力：τ＝F/(W’*B’)

滑移应变：ε_s＝S/B’。