[发明专利]封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法

权利要求书

1.一种封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)选择要测量的空间辐射点；

2)以该空间辐射点为原心建立三维空间坐标，之后如下步骤：

a)以M1(0,Y,0)、M2(X,0,0)、M3(0,-Y,0)、M4(-X,0,0)、M5(0,0,Z)、M6(0,0,-Z)建立第一批测量点进行测量并记录；

b)以N1(-X/2,Y/2,Z/2)、N2(-X/2,Y/2,-Z/2)、N3(X/2,Y/2,Z/2)、N4(X/2,-Y/2,-Z/2)、N5(-X/2,-Y/2,Z/2)、N6(-X/2,-Y/2,-Z/2)、N7(X/2,-Y/2,Z/2)、N8(X/2,-Y/2,-Z/2)建立第二批测量点进行测量并记录；

c)以第一批测量点中任意一一点和第二批测量点中任意一点连线的中点建立第三批测量点P1、P2……P48进行测量并记录；

d)测量1)中空间辐射点的辐射强度A；

其中8≤X＝Y＝Z≤10mm，以上测量过程中均选择同一台或同一批X射线检测仪,M1-M6、N1-N8、P1-P48均代表测量点的辐射强度；

e)计算第一批的均值B、第二批的均值C以及第三批的标准差σ，最终结果值其中E常量为3.47。

2.根据权利要求1所述一种封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法，其特征是：8.5≤X＝Y＝Z≤8.9mm。

3.根据权利要求1所述一种封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法，其特征是：使用X射线检测仪测量该辐射点得出数值A，并与标准值X进行比较，当A≤X-b，结束测量，其中X为国家标准值，b为常量。

4.根据权利要求1所述一种封闭空间内X、γ射线电离辐射强度检测方法，其特征是：X射线检测仪的误差在±15％。