[发明专利]光电编码器有效
| 申请号: | 201710184143.6 | 申请日: | 2017-03-24 |
| 公开(公告)号: | CN107228685B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
| 发明(设计)人: | 平田州;夜久亨 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
| 主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347;G01D5/30 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光电 编码器 | ||
1.一种光电编码器,包括:
标尺,其沿长度测量方向设置有按照伪随机码序列的2级代码图案;以及
检测头部,其被设置成能够沿所述标尺相对移动,并且用于基于所述标尺上的伪随机码序列来检测所述标尺上的绝对位置,
其中,所述2级代码图案中的各代码包括2位的组合,
使用3种以上的位组合图案来表现所述2级代码图案,
所述2级代码图案中的各个代码表示代码“1”或代码“0”,
各个代码包括2位,
所述2位中的各个位是L或H,
光反射部和光透过部中的一个被配置在所述标尺上相当于L的位置处,
所述光反射部和所述光透过部中的另一个被配置在所述标尺上相当于H的位置处,以及
所述检测头部包括:
光源,用于利用光来照射所述标尺;
图像获取单元,用于获取由所述标尺反射的光或者透过所述标尺的光所形成的明暗的检测图像;
反转处理单元,用于对所述检测图像进行反转处理;以及
相关计算单元,用于基于所述伪随机码序列对所述检测图像的位数据进行相关计算,并且根据相关峰值来计算所述标尺上的绝对位置,
其中,在所述相关计算单元被设计成以由所述标尺反射的光所形成的检测图像为基准来进行所述相关计算、并且所述图像获取单元获取透过所述标尺的光所形成的检测图像的情况下,所述反转处理单元被设置成接通,在所述相关计算单元被设计成以透过所述标尺的光所形成的检测图像为基准来进行所述相关计算、并且所述图像获取单元获取由所述标尺反射的光所形成的检测图像的情况下,所述反转处理单元被设置成接通,
在所述相关计算单元被设计成以由所述标尺反射的光所形成的检测图像为基准来进行所述相关计算、并且所述图像获取单元获取由所述标尺反射的光所形成的检测图像的情况下,所述反转处理单元被设置成关闭,以及
在所述相关计算单元被设计成以透过所述标尺的光所形成的检测图像为基准来进行所述相关计算、并且所述图像获取单元获取透过所述标尺的光所形成的检测图像的情况下,所述反转处理单元被设置成关闭。
2.根据权利要求1所述的光电编码器,其中,
所述反转处理单元包括用于改变所述反转处理的接通/关闭设置的设置选择器开关。
3.一种光电编码器,包括:
标尺,其沿长度测量方向设置有按照伪随机码序列的2级代码图案;以及
检测头部,其被设置成能够沿所述标尺相对移动,并且用于基于所述标尺上的伪随机码序列来检测所述标尺上的绝对位置,
其中,所述2级代码图案中的各代码包括2位的组合,
使用3种以上的位组合图案来表现所述2级代码图案,
所述2级代码图案中的各个代码表示代码“1”或代码“0”,
各个代码包括2位,
所述2位中的各个位是L或H,
光反射部和光透过部中的一个被配置在所述标尺上相当于L的位置处,
所述光反射部和所述光透过部中的另一个被配置在所述标尺上相当于H的位置处,以及
所述检测头部包括:
光源,用于利用光来照射所述标尺;
图像获取单元,用于获取由所述标尺反射的光或者透过所述标尺的光所形成的明暗的检测图像;
反转处理单元,用于对所述检测图像进行反转处理;以及
相关计算单元,用于基于所述伪随机码序列对所述检测图像的位数据进行相关计算,并且根据相关峰值来计算所述标尺上的绝对位置,
其中,所述2级代码图案中的连续L的数量等于或小于上限值,以及
所述2级代码图案中的连续H的数量等于或小于上限值。
4.根据权利要求3所述的光电编码器,其中,
所述反转处理单元包括用于改变所述反转处理的接通/关闭设置的设置选择器开关。
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