[发明专利]劣化推定方法以及劣化推定装置

说明书

一种劣化推定方法以及劣化推定装置，劣化推定方法包括：取得设备(101)的保养维修的作业记录(112)的作业记录取得步骤(S131)；根据作业记录(112)来分析设备(101)的劣化状态的分析步骤(S132)；根据所分析的劣化状态，将用于推定设备(101)是否已劣化的预先设定的第1判定基准调整为第2判定基准的判定基准调整步骤(S133～S137)；取得表示设备(101)的状态的设备数据(111)的设备数据取得步骤(S121)；以及使用所取得的设备数据(111)和第2判定基准来推定设备(101)是否已劣化的第1劣化推定步骤(S123)。

技术领域

本公开涉及劣化推定方法以及劣化推定装置。

背景技术

已知如下技术：在大型空调机等需要保养维修的设备的管理中，使用该设备的内部传感器所取得的运转数据等来推定设备的劣化状态。例如，在专利文献1中，事先制作劣化的判定基准，使用该判定基准来推定劣化状态。另外，在专利文献2中，通过比较当前的运转信息与过去的运转信息来推定劣化状态。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第3340814号公报

专利文献2：日本专利第5621888号公报

发明内容

然而，在这样的系统中，希望能够进行精度更高的劣化状态的推定。

本公开提供一种能够实现高精度的劣化状态的推定的劣化推定方法或劣化推定装置。

本公开的一技术方案所涉及的劣化推定方法包括：取得设备的保养维修的作业记录的作业记录取得步骤；根据所述作业记录来分析所述设备的劣化状态的分析步骤；根据所分析出的所述劣化状态，将用于推定所述设备是否已劣化的预先设定的第1判定基准调整为第2判定基准的判定基准调整步骤；取得表示所述设备的状态的第1设备数据的设备数据取得步骤；以及使用所取得的所述第1设备数据和所述第2判定基准来推定所述设备是否已劣化的第1劣化推定步骤。

此外，这些整体的或具体的技术方案既可以通过系统、方法、集成电路、计算机程序或计算机可读取的CD-ROM等记录介质来实现，也可以通过系统、方法、集成电路、计算机程序以及记录介质的任意的组合来实现。

本公开能够提供一种能够实现精度高的劣化状态的推定的劣化推定方法或劣化推定装置。

附图说明

图1是示出实施方式所涉及的劣化推定系统的构成的图。

图2是实施方式所涉及的劣化推定装置的框图。

图3A是示出实施方式所涉及的警报通知时的工作的概要的图。

图3B是示出实施方式所涉及的定期点检时的工作的概要的图。

图4是示出实施方式所涉及的警报通知时的工作例的图。

图5是实施方式所涉及的劣化推定处理的流程图。

图6是示出实施方式所涉及的设备数据的一例的图。

图7是示出实施方式所涉及的劣化指标的一例的图。

图8是用于说明实施方式所涉及的劣化推定处理的图。

图9是实施方式所涉及的警报通知时的判定基准调整处理的流程图。

图10是示出实施方式所涉及的非定型记录的一例的图。

图11是示出实施方式所涉及的有无作业判定条件的一例的图。

图12是示出实施方式所涉及的在升高判定基准的情况下的工作例的图。

图13是示出实施方式所涉及的劣化程度判定条件的一例的图。