[发明专利]波长移相中基于FAST‑ICA算法的超薄平板干涉信号分离处理方法在审
申请号: | 201710180047.4 | 申请日: | 2017-03-24 |
公开(公告)号: | CN107024186A | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 孙涛;董焰章;于瀛洁;牟柯冰 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B9/02;G06F17/16 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙)31205 | 代理人: | 陆聪明 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 波长 相中 基于 fast ica 算法 超薄 平板 干涉 信号 分离 处理 方法 | ||
1.一种波长移相中基于FAST-ICA算法的超薄平板干涉信号分离处理方法,其特征在于,由以下步骤实现:
步骤一:波长移相干涉仪通过波长调谐测量超薄平行平板,得到包含前后表面面形信息的一系列波长移相干涉图;
步骤二:根据像素列出时域序列干涉信号,对序列干涉信号去均值化:首先求出干涉信号的均值,然后将干涉信号减去均值,得到去均值化后的干涉信号;
步骤三:利用白化矩阵将均值化后的干涉信号进行白化;
步骤四:根据独立分量提取算法,利用分离矩阵处理白化后的去均值信号;
步骤五:判断是否收敛:如果收敛,则分离矩阵已最优,即得到待分离的前后表面干涉信号,执行第六步;如果不收敛,则分离矩阵不是最优,需要重新优化分离矩阵,再返回第四步;
步骤六:将分离后的前后表面干涉信号利用时域移相算法,计算求解得到前后表面面形。
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