[发明专利]一种显示模组缺陷快速修复方法及系统

说明书

本发明公开了一种显示模组缺陷快速修复方法及系统，该方法主要包括：(1)依据待测试的显示器判断其是否具有可调取的修复补偿值估计模型；若没有，则进入步骤(2)，若有，则进入步骤(3)；(2)获取修复补偿值并执行修复(3)调用所述修复补偿值估计模型，直接计算区域的补偿值；(4)将最终获得的补偿值烧至所述显示器中，完成缺陷补偿。按照本发明实现的快速修复方法，在保证修复效果的同时减少耗，从而提高平面显示设备的产能。

技术领域

本发明属于显示技术领域，更具体地，涉及一种显示模组缺陷快速修复方法及系统。

背景技术

显示模组具有高分辨率、高亮度以及无几何变形等优点，同时由于其体积小、重量轻和功耗低，因而被广泛的应用在人们日常使用的消费电子产品中，例如电视、电脑、手机、平板等。但是随着显示模组的尺寸越做越大，其亮度的均匀性也越来越难控制，这样就给显示模组带来色斑缺陷(Mura)。色斑(Mura)会给人视觉上带来不适，严重影响显示模组的品质。目前各大显示模组制造商都依靠人工检测色斑(Mura)缺陷，并按照色斑(Mura)的严重程度进行等级划分，从而分等级出售。由于显示模组的尺寸越做越大，其质量也越来越难以控制，有的甚至100％的产品都有不同程度的色斑(Mura)，严重影响制造商的利益。

目前已有专门针对显示模组色斑(Mura)修复的相关技术和产品。其中现有技术中已经存在的方法是采用经验值参数对mura缺陷进行修复，该方式前期需要研发人员通过大量的测试总结获取合适的参数。该方式的主要优点是耗时短，但是由于人工经验值参数的适应性差，从而导致修复效果一般，且对于每款新的显示模组，需要花费很长的时间去寻找经验值参数。另外一种方式是采用多次迭代的方式对缺陷进行修复，该方式无需事先获取参数，直接利用迭代来弥补一次修复的不足，能够达到较好的修复效果，但是上述修复方式的方式耗时长，迭代过程中需要将每次迭代的结果烧录至Demura的Flash中，该过程每次耗时约10s，加入5次迭代就需耗时50s，严重影响了显示模组色斑的修复速度，降低了生产测试的效率。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明针对上述现有技术中存在的问题，提供一种显示模组缺陷快速修复方法及系统。本发明的主要思路在于首先通过迭代的方式修复1000片样本，然后利用这已修复完成的1000片样本通过机器学习的方法建立一个补偿数据计算模型，该模型建立完成后即可被用来计算显示模组缺陷的补偿数据，该方法前期利用多次迭代修复确保样本的有效性，后期通过补偿数据计算模型直接获取补偿数据，在保证修复效果的同时减少耗时，从而提高平面显示设备的产能。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种显示模组缺陷快速修复方法，其特征在于，该修复方法主要包括如下步骤：

(1)依据待修复的显示模组判断其是否具有可调取的修复补偿值估计模型；若没有，则进入步骤(2)，若有，则调用所述缺陷修复补偿值估计模型，直接计算缺陷区域的补偿值；

(2)获取修复补偿值：

(2-1)输入一灰阶为n的全白图像，采集所述全白图像经过所述待修复的显示模组显示的影像信号GrayImg，按如下方法获取补偿值RepairData，其中0≤n≤255：

RepairData＝diff(GrayImg*K，BackModel)；

其中，diff(GrayImg*K，BackModel)＝GrayImg*K-BackModel，

或diff(GrayImg*K，BackModel)＝(GrayImg*K)./BackModel，

其中，所述BackModel为目标影像信号,所述K为第一权重参数；

(3)将获得的补偿值烧至所述待修复的显示模组中，完成补偿，