[发明专利]GIS设备低压导体表面电场强度测量装置及方法在审
申请号: | 201710177530.7 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN106896302A | 公开(公告)日: | 2017-06-27 |
发明(设计)人: | 卢斌先;杨颖 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R29/12 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 | 代理人: | 张文宝 |
地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | gis 设备 低压 导体 表面 电场 强度 测量 装置 方法 | ||
1.一种GIS设备低压导体表面电场强度测量装置,其特征在于,电场强度测量装置结构为GIS设备外壳通过短支架固定在底座上,高压导体通过底座上长支架支撑在GIS设备外壳中心,在外壳的中间切割0.8m2的楔块,对楔块边缘进行绝缘处理后用绝缘材料支撑在原位;从楔块引出导线连接10千欧的电阻,并电阻接地,电阻两端通过电缆连接放大电路;放大电路与显示器连接。
2.一种GIS设备低压导体表面电场强度测量方法,其特征在于,测量步骤包括:
(1)建立测量装置:
(2)检查外壳、电阻的接地情况;
(3)在高压导体上加交流220kV的高压电,
(4)电阻两端的电压信号通过电缆输入到放大电路,在显示器上显示电场强度的读数。
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