[发明专利]氧化锌基底诱导取向生长硒化锑薄膜的方法有效
申请号: | 201710176171.3 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN106910797B | 公开(公告)日: | 2017-12-29 |
发明(设计)人: | 唐江;李康华;牛广达;王亮;李登兵;陈超;赵洋 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/032;H01L21/02 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人: | 许恒恒,李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氧化锌 基底 诱导 取向 生长 硒化锑 薄膜 方法 | ||
1.一种氧化锌基底诱导取向生长的硒化锑薄膜的方法,其特征在于,该方法是以特定取向的氧化锌基底诱导生长具有择优取向方向的硒化锑薄膜;所述特定取向的氧化锌基底为(100)取向的氧化锌基底、或(002)取向的氧化锌基底;
当所述特定取向的氧化锌基底为(100)取向的氧化锌基底时,诱导生长出的所述具有择优取向方向的硒化锑薄膜是以<221>方向为主导生长取向;
当所述特定取向的氧化锌基底为(002)取向的氧化锌基底时,诱导生长出的所述具有择优取向方向的硒化锑薄膜是以<120>方向为主导生长取向;
所述(100)取向的氧化锌基底,其X射线衍射曲线中,ZnO(100)对应的衍射峰最高强度不小于ZnO(002)对应的衍射峰最高强度的60%;
所述(002)取向的氧化锌基底,其X射线衍射曲线中,ZnO(002)对应的衍射峰强度最高,且ZnO(100)对应的衍射峰最高强度不大于ZnO(002)对应的衍射峰最高强度的8%。
2.一种氧化锌基底诱导取向生长的硒化锑薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)利用喷涂热解的方法在第一基底上沉积氧化锌薄膜:采用硝酸锌浓度为0.1~0.4mol L-1的硝酸锌水溶液作为喷涂前驱体,控制前驱体流量为1-3mL min-1,喷枪气压为1.5kPa-2.0kPa,基板温度为380~420℃,退火温度为450~550℃,退火时间为15-25min或50-70min,得到覆盖有(100)取向或(002)取向的氧化锌薄膜的基底;
(2)采用快速热蒸发的方式在所述步骤(1)得到的覆盖有特定取向的氧化锌薄膜的基底上继续沉积硒化锑薄膜,从而获得相应取向生长的硒化锑薄膜;
当所述步骤(2)是采用所述(100)取向的氧化锌薄膜时,所述硒化锑薄膜是以<221>方向为主导生长取向;
当所述步骤(2)是采用所述(002)取向的氧化锌薄膜时,所述硒化锑薄膜是以<120>方向为主导生长取向。
3.如权利要求2所述氧化锌基底诱导取向生长的硒化锑薄膜的方法,其特征在于,所述步骤(2)是利用硒化锑粉末作为蒸发源,控制真空度不超过0.5Pa,基底温度为275℃~350℃并维持不少于15min,接着将蒸发源的温度加热至550~570℃,控制蒸发时间为30~35s;所述硒化锑薄膜的厚度为400~600nm。
4.如权利要求2所述氧化锌基底诱导取向生长的硒化锑薄膜的方法,其特征在于,所述步骤(1)中,所述第一基底为透明导电玻璃。
5.如权利要求4所述氧化锌基底诱导取向生长的硒化锑薄膜的方法,其特征在于,该透明导电玻璃为FTO或ITO。
6.一种硒化锑薄膜太阳能电池,其特征在于,该硒化锑薄膜太阳能电池包括如权利要求1-5任意一项所述氧化锌基底诱导取向生长的硒化锑薄膜的方法制备得到的硒化锑薄膜;该硒化锑薄膜是以<221>方向为主导生长取向,或者是以<120>方向为主导生长取向。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的