[发明专利]一种用于线性传感器的测试方法

权利要求书

1.一种用于线性传感器的测试方法，其特征在于：所述测试方法包括：

（1）开启线性传感器测试系统，设置光源模块在合适亮度；

（2）通过IC读取待测线性传感器ID，判断所述待测线性传感器ID，不正确则标记为I2C不良，正确则进入步骤(3)；

(3)对待测线性传感器及FPGA进行参数初始化，所述FPGA预处理待测线性传感器数据，上位机根据FPGA预处理方法进行反向处理，得到还原数据；

(4)设置MeanDark阈值范围；根据所述还原数据进行MeanDark数据处理，计算得出MeanDark，MeanDark不属于MeanDark阈值范围内，则标记为MeanDark不良；MeanDark属于MeanDark阈值范围内，进入步骤(5)；

(5)根据步骤(4)中MeanDark进行MeanSub数据处理，设置MeanSub阈值范围，计算MeanSub，所述MeanSub不属于MeanSub阈值范围内，则标记为MeanSub不良；MeanSub属于MeanSub阈值范围内，进入步骤(6)；

(6)进行坏点不良测试，存在坏点则标记为坏点不良，不存在坏点标记为良品，完成测试。

2.根据权利要求1所述的用于线性传感器的测试方法，其特征在于：所述MeanDark数据处理过程包括：

(A)获取3帧图像数据，分别存放在Buf1、Buf2、Buf3中，所述图像数据均为8Bit数据；

(B)对Buf1、Buf2、Buf3中数据进行数据拼接，拼接为12Bit；

(C)根据步骤（B）中的拼接后的Buf1数据对应像素、Buf2数据对应像素、Buf3数据对应像素累加求和，计算均值得到Buf；

(D)所述Buf中前4列Dark像素和最后4列Dark像素累加求和，计算均值，均值为MeanDark。

3.根据权利要求2所述的用于线性传感器的测试方法，其特征在于：所述MeanSub数据处理过程包括：

所述Buf中间的2040个Dark像素累加求和，计算均值，均值为Mean2040；

计算MeanSub，MeanSub＝Mean2040–MeanDark。

4.根据权利要求3所述的用于线性传感器的测试方法，其特征在于：所述坏点不良测试包括：

若Mean2040-Yi>Mean2040×Dark_threshold，标记第i个像素为Dark像素不良；

若Yi-Mean2040>Mean2040×hot_threshold，标记第i个像素为Hot像素不良；

其中,Dark_threshold及hot_threshold均为10％，Yi为第i个像素Mean值。

5.根据权利要求1所述的用于线性传感器的测试方法，其特征在于：所述MeanDark阈值范围为1600-1900。

6.根据权利要求1所述的用于线性传感器的测试方法，其特征在于：所述MeanSub阈值范围为450-700。