[发明专利]一种触摸检测方法和装置

说明书

本发明适用于电子技术领域，提供了一种触摸检测方法和装置，旨在解决现有技术中大尺寸电阻式触摸屏的性能和触控准确性无法同时满足的问题。所述方法包括：若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样；根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；若触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算触摸点的x轴电压值和y轴电压值；根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。本发明的技术方案实现了降低处理器的处理负荷，提高触控性能，同时避免了触控显示刷新延迟等问题。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种触摸检测方法和装置。

背景技术

目前，随着触摸屏尺寸的不断增大，大尺寸的触摸屏成品在触控压力一致性方面的性能较差。产品开发人员往往通过增加采样点数或者统一使用时间复杂度较高的滤波算法，过滤无效数据，计算出准确的触摸轨迹。

但是，增加采样点数和统一使用时间复杂度较高的滤波算法的方式会导致主处理器的负担增大，在性能要求严格的嵌入式系统中，往往又会导致触控显示刷新延迟等问题，影响用户的触控体验。

发明内容

本发明实施例提供一种触摸检测方法和装置，旨在解决现有技术中大尺寸电阻式触摸屏的性能和触控准确性无法同时满足的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种触摸检测方法，该触摸检测方法包括：

若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；

根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；

若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值；

根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。

另一方面，本发明实施例提供了一种触摸检测装置，该触摸检测装置包括:

采样模块，用于若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；

判断模块，用于根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；

计算模块，用于若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值；

第一确定模块，用于根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。

本发明实施例若检测到用户通过触摸屏输入的触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，并根据n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域，若该触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点的电压值进行采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值，然后根据x轴电压值和y轴电压值，确定该触摸点在触摸屏的位置坐标。通过对触摸点的电压值进行采样，识别出触控压力不一致的问题区域，只针对问题区域通过增加采样点使用时间复杂度较高的优化算法，而对正常区域可以仍然采用采样点较少的常规过滤算法，从而在减少对系统处理能力的占用，降低处理器的处理负荷，提高触控性能的同时，也避免了触控显示刷新延迟等问题，使得终端能够及时准确地响应触摸操作对应的控制指令。

附图说明