[发明专利]银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法

说明书

本发明公开了一种银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。

技术领域

本发明属于银行芯片测试系统的技术领域，特别涉及银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法。

背景技术

芯片银行卡，又称金融IC卡，是以芯片作为介质的银行卡。芯片卡容量大，其工作原理类似于微型计算机，能够同时具备多种功能。芯片银行卡又分为纯芯片卡和磁条芯片复合卡。

现有的银行芯片测试系统通常测试过程复杂，无法实现自动化，需要人工干预，测试效率低下。

本案的自动化测试系统主要是为银行安全芯片提供测试服务，测试机和测试电路通过DUT连接到待测芯片,可实现对单颗芯片的测试，在测试机连接机械手后，可对争先安全芯片进行自动化量产测试,并将测试机测试电性参数后的测试结果保存下来，同时将芯片中的不良品筛选出来，在机械手这端把良品和不良品分别放入到不同的TRAY盘。

发明内容

为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法，该测试系统利用V50测试机与机械手的配合进行模拟待测芯片的实际工作环境，对待测芯片的直流参数和交流参数进行测试，从而使每个芯片的各项参数正常，并且每相参数的一致性调整到最优。

本发明的另一个目的在于提供一种银行安全芯片自动化测试系统，该测试系统能够进行良品分BIN和不良品分BIN。

本发明的另一个目的在于提供一种银行安全芯片自动化测试系统的控制方法，测试过程自动化程度高，且测试效率高。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下。

一种银行安全芯片自动化测试系统，包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测芯片连接，且所述机械手与待测芯片连接；所述V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；所述V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，所述V50测试机对待测芯片进行测试，所述V50测试机将测试结果返回给机械手，且所述机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。

所述V50测试机上设有电源模块和数字通道模块，所述电源模块和数字通道模块均与测试DUT连接，所述V50测试机通过电源模块和测试DUT给待测芯片供电，且所述V50测试机通过数字通道模块和测试DUT对待测芯片施加相应的激励信号。所述V50测试机测试待测芯片的各项参数，根据测试结果判定待测芯片的好坏且分类，将不良品有效筛选出来。

所述V50测试机上还设有测试平台、气缸、导轨和支架，所述测试区设置在测试平台上，所述导轨和支架设置在测试区的上方，所述机械手的上端设置在支架上，所述气缸通过导轨与支架驱动连接，且所述支架在导轨上移动。

更进一步，所述机械手的下端设有吸盘，所述气缸与吸盘驱动连接，且所述吸盘用于对测试区上的待测芯片取料及分料。

进一步，所述电源模块的供电电压为3.3V、5V、5.5V或2.7V中的一种。

一种银行安全芯片自动化测试系统的控制方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，将V50测试机与测试DUT连接，且将测试DUT与机械手连接；