[发明专利]用于自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置及方法

权利要求书

1.一种自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置，其特征在于，该测试装置包括地址加密单元、硬件校验单元、冗余页替换控制单元和存储器，其中，

地址加密单元依次连接硬件校验单元和冗余页替换控制单元，用于对测试指令中的测试操作地址进行加密处理；

硬件校验单元连接冗余页替换控制单元，用于接收加密地址，并对存储器的物理空间进行功能校验，当校验到存储器的坏页时，存储器校验出错，硬件校验单元生成校验错误信号；

冗余页替换控制单元内含冗余页替换记录寄存器，用于接收硬件校验单元发送的校验错误信号，并将校验出错的存储器物理地址标记为错误地址，自动记录该错误地址后，存入冗余页替换记录寄存器中；

存储器与硬件校验单元相互连接，存储器正常使用时，当访问到存储器的坏页时，冗余页替换控制单元自动识别冗余页替换记录寄存器中保存的错误地址，并自动使用存储器中的冗余页替换存储器的坏页，完成冗余页替换。

2.一种自动记录存储器冗余页错误地址的测试方法，其特征在于，所述测试方法在地址加密单元、硬件校验单元、冗余页替换控制单元和存储器组成的存储器测试装置上执行，具体步骤如下：

1）存储器校验操作开始后，外部接口发送包含测试操作地址的测试指令，地址加密单元接收包含测试操作地址的测试指令；

2）地址加密单元对测试指令中的测试操作地址进行加密处理，生成加密地址，然后将加密地址发送到硬件校验单元；

3）硬件校验单元接收加密地址，并对存储器的物理空间进行功能校验；

4）当校验到存储器的坏页时，存储器校验出错，硬件校验单元生成校验错误信号；

5）冗余页替换控制单元接收硬件校验单元发送的校验错误信号，并根据校验错误信号，将校验出错的存储器物理地址标记为错误地址，自动记录该错误地址后，存入冗余页替换记录寄存器中；

6）存储器正常使用时，访问到存储器的坏页时，冗余页替换控制单元自动识别冗余页替换记录寄存器中保存的错误地址，并自动使用存储器中的冗余页替换存在的坏页，完成冗余页替换。