[发明专利]一种光栅尺测量机构在审
| 申请号： | 201710165353.0 | 申请日： | 2017-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN106949917A | 公开（公告）日： | 2017-07-14 |
| 发明（设计）人： | 林长友;王忠杰;王洋;逄增宝;许云龙 | 申请（专利权）人： | 长春禹衡光学有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/38 | 分类号： | G01D5/38 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 130012 吉林省*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光栅尺 测量 机构 | ||
【权利要求书】：
1.一种光栅尺测量机构，其特征在于，包括：滑架和支架以及顶紧机构，所述滑架上设有用于对当前位置信息进行解码并输出的芯片，所述支架上设有凹槽，所述滑架的底部通过压缩弹簧连接在所述支架的凹槽内，所述滑架的右侧通过拉伸弹簧连接在所述凹槽的侧壁上，所述顶紧机构包括固定在所述滑架上的顶块和固定在所述支架上的顶杆，所述顶杆的末端和所述顶块相互接触，所述顶块上与所述顶杆接触的一面烧结有金刚石层。
2.根据权利要求1所述的光栅尺测量机构，其特征在于，所述顶杆的末端为球面。
3.根据权利要求2所述的光栅尺测量机构，其特征在于，所述球面的半径为2mm，所述顶杆的直径为1mm。
4.根据权利要求3所述的光栅尺测量机构，其特征在于，所述顶块包括和所述金刚石层烧结在一起的钨钢基层。
5.根据权利要求4所述的光栅尺测量机构，其特征在于，所述金刚石层表面的粗糙度为0.012mm。
6.根据权利要求5所述的光栅尺测量机构，其特征在于，所述顶杆为轴承钢顶杆。
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