[发明专利]一种Ar粒子辐照增强Cr掺杂ZnO薄膜铁磁性的方法在审
申请号: | 201710163676.6 | 申请日: | 2017-03-17 |
公开(公告)号: | CN106920623A | 公开(公告)日: | 2017-07-04 |
发明(设计)人: | 刘学超;陈卫宾;卓世异;施尔畏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | H01F1/40 | 分类号: | H01F1/40;H01F41/32;C23C14/34;C23C14/08 |
代理公司: | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙)31261 | 代理人: | 曹芳玲,郑优丽 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ar 粒子 辐照 增强 cr 掺杂 zno 薄膜 铁磁性 方法 | ||
1.一种Ar粒子辐照增强Cr掺杂ZnO薄膜铁磁性的方法,其特征在于,以一定剂量的Ar粒子对Cr掺杂ZnO薄膜进行辐照,所述Cr掺杂ZnO薄膜的化学式为Zn1-xCrxO,其中0< x≤0.05。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,0.01≤x≤0.05。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述Ar粒子的辐照剂量为7×1014~5×1016 cm-2。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述Ar粒子的辐照能量为2.5~3.0MeV,辐照过程在室温下进行。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述辐照在Cr掺杂ZnO薄膜中产生了阳离子空位,通过调节Ar粒子辐照剂量和/或辐照能量来调控阳离子空位的浓度。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征在于,经所述辐照后的Cr掺杂ZnO薄膜的饱和磁化强度相对于辐照前提高了65%以上。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,所述辐照不改变所述薄膜的组成和相。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述Cr掺杂ZnO薄膜的制备方法为物理气相沉积法、化学气相沉积法、溶胶-凝胶法和电化学方法中的至少一种,优选为磁束缚电感耦合等离子体增强物理气相沉积法。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述Cr掺杂ZnO薄膜的制备方法包括:
(1)将清洁干燥的衬底、Zn1-xCrxO靶材放入腔室中;
(2)将腔室本底真空抽至≤5.0×10-4Pa,通入高纯Ar,调节腔体的压强在1.0~1.5 Pa,然后将衬底加热至300~350 ℃;
(3)最后开启射频电源,在100~150 W的功率下溅射1.5~2小时。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述衬底的材料为硅片、蓝宝石、碳化硅和石英玻璃中的至少一种。
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