[发明专利]ATE电压测试系统及ATE电压测试方法有效

专利信息
申请号: 201710162218.0 申请日: 2017-03-17
公开(公告)号: CN107064773B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 张先明 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: ate 电压 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种ATE电压测试系统,其特征在于,包括:测试治具板(1)、与所述测试治具板(1)电性连接的输出板(2)、以及与所述测试治具板(1)和输出板(2)分别电性连接的电脑(3);所述测试治具板(1)上放置有待测试的PCBA;其中:

所述测试治具板(1)内设有I2C连线,用于与待测试的PCBA进行通信;

所述电脑(3),用于测量所述输出板(2)的输出电压值,并将所述输出板(2)的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较,得到测试结果;及用于在所述测试结果为测得的输出板(2)的输出电压值不在合格电压值范围内时,向测试治具板(1)发出控制信号;

所述测试治具板(1)根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压,并将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板(2),从而调节输出板(2)的输出电压值至预设定的合格电压值范围内;

所述测试治具板(1)通过连接线(6)电性连接输出板(2);

所述PCBA内设有PWM IC、及P-Gamma IC,所述输出板(2)的输出电压值包括PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值;

所述测试治具板(1)根据电脑(3)发出的控制信号通过I2C连线烧录PWM IC与P-GammaIC的内部编码并调节寄存器来调整PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值,并将调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线(6)传送至输出板(2),从而调节输出板(2)的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值至预设定的合格电压值范围内。

2.如权利要求1所述的ATE电压测试系统,其特征在于,所述连接线(6)内设有I2C控制的引脚;所述电脑(3)通过测试探针(5)电性连接输出板(2)及测量输出板(2)的输出电压值,并通过信号走线(7)电性连接测试治具板(1)及传输控制信号。

3.如权利要求1所述的ATE电压测试系统,其特征在于,所述控制信号包括SPI控制信号、及I2C控制信号。

4.一种ATE电压测试方法,其特征在于,应用上述权利要求1-3任一项所述的ATE电压测试系统,并包括如下步骤:

步骤S1、所述电脑(3)测量输出板(2)的输出电压值,并将所述输出板(2)的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较,得到测试结果;若所述测试结果为测得的输出板(2)的输出电压值不在合格电压值范围内时,进行步骤S2;

步骤S2、所述电脑(3)向测试治具板(1)发出控制信号,所述测试治具板(1)根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压,再将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板(2),从而调节输出板(2)的输出电压值至预设定的合格电压值范围内。

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