[发明专利]一种无缆测井深度校正方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710150461.0 申请日: 2017-03-14
公开(公告)号: CN108571316B 公开(公告)日: 2023-01-13
发明(设计)人: 赵俊峰;李凤琴;蔡蓉;任海容;冉庆;侯立云 申请(专利权)人: 中石化石油工程技术服务有限公司;中石化经纬有限公司;中石化中原石油工程有限公司;中石化经纬有限公司中原测控公司
主分类号: E21B47/04 分类号: E21B47/04
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100028 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测井 深度 校正 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种无缆测井深度校正方法,其特征在于,该方法包括:

将实际套管接箍深度作为基准,利用相关系数法将固井测井的磁定位曲线与所述实际套管接箍深度进行对比,获得所述固井测井深度校正量;

根据所述固井测井深度校正量,对固井测井的磁定位曲线和固井测井GR及同步测量的相关曲线进行校正,获得校正后的固井测井GR及所有同步测量曲线的深度;

将裸眼测井GR深度与所述校正后的固井测井GR深度进行深度校正,确定所述裸眼GR测井深度校正量;

根据所述裸眼GR测井深度校正量,对裸眼测井的GR曲线和裸眼测井的相关曲线深度进行校正。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将实际套管接箍深度作为基准,利用相关系数法将固井测井的磁定位曲线与所述实际套管接箍深度进行对比,获得所述固井测井深度校正量,包括:

根据所述固井测井的磁定位曲线的各峰值深度,得到所述磁定位曲线显示的套管顶部深度数值;

计算磁定位曲线深度校正量dj,其中,dj=ds-dc,式中dj为所述磁定位曲线深度校正量,ds为所述实际套管接箍顶部深度数值,dc为所述磁定位曲线显示的套管顶部深度数值;

根据所述磁定位曲线深度校正量,对所述磁定位曲线进行深度校正,获得校正后的磁定位曲线显示的套管顶部深度值,并与相对应的所述实际套管接箍顶部深度数值进行比较,判断所述比较值是否在误差允许范围内,如果是,则将所述磁定位曲线深度校正量作为所述固井测井深度校正量。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述固井测井深度校正量,对固井测井的磁定位曲线和固井测井GR及同步测量的相关曲线进行校正,获得校正后的固井测井GR及所有同步测量曲线的深度,包括:

根据所述固井测井深度校正量,采用深度平差的方法,对所述固井测井的磁定位曲线进行相应的曲线拉伸或压缩;

将同步测量的所述固井测井GR及同步测量的所有相关曲线进行校正,获得所述校正后的固井测井GR及所有同步测量曲线的深度。

4.一种无缆测井深度校正装置,其特征在于,该装置包括:

第一获取模块,用于将实际套管接箍深度作为基准,利用相关系数法将固井测井的磁定位曲线与所述实际套管接箍深度进行对比,获得所述固井测井深度校正量;

第一校正模块,用于根据所述固井测井深度校正量,对固井测井的磁定位曲线和固井测井GR及同步测量的相关曲线进行校正,获得校正后的固井测井GR及所有同步测量曲线的深度;

第二获取模块,用于将裸眼测井GR深度与所述校正后的固井测井GR深度进行深度校正,确定所述裸眼GR测井深度校正量;

第二校正模块,用于根据所述裸眼GR测井深度校正量,对裸眼测井的GR曲线和裸眼测井的相关曲线深度进行校正。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述第一获取模块包括:

数值获取单元,用于根据所述固井测井的磁定位曲线的各峰值深度,得到所述磁定位曲线显示的套管顶部深度数值;

计算单元,用于计算磁定位曲线深度校正量dj,其中,dj=ds-dc,式中dj为所述磁定位曲线深度校正量,ds为所述实际套管接箍顶部深度数值,dc为所述磁定位曲线显示的套管顶部深度数值;

判断单元,用于根据所述磁定位曲线深度校正量,对所述磁定位曲线进行深度校正,获得校正后的磁定位曲线显示的套管顶部深度值,并与相对应的所述实际套管接箍顶部深度数值进行比较,判断所述比较值是否在误差允许范围内,如果是,则将所述磁定位曲线深度校正量作为所述固井测井深度校正量。

6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述第一校正模块包括:

第一校正单元,用于根据所述固井测井深度校正量,采用深度平差的方法,对所述固井测井的磁定位曲线进行相应的曲线拉伸或压缩;

第二校正单元,用于将同步测量的所述固井测井GR及同步测量的所有相关曲线进行校正,获得所述校正后的固井测井GR及所有同步测量曲线的深度。

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