[发明专利]触控力检测方法、触控力检测装置、触控面板及显示装置

说明书

本发明提供一种触控力检测方法、触控力检测装置、触控面板及显示装置，其包括以下步骤：S1，获得待检测面板的触控点数目N，N为大于或等于1的整数；S2，任意选择待检测面板上的M个测试位置，M为大于或等于N的整数，并获得各个测试位置的电容变化量；该电容变化量为在触摸待检测面板时，其感应电极与参考电极之间的电容在该测试位置处的变化量；S3，根据各个测试位置处的所述电容变化量，获得各个测试位置的面板形变量；S4，根据面板形变量与触控力的对应关系计算获得触控点处的触控力。本发明提供的触控力检测方法，其可以实现对单个或多个手指的触控力度进行检测。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及一种触控力检测方法、触控力检测装置、触控面板及显示装置。

背景技术

电容式触摸屏是通过捕捉电极间的电容变化，进行触控位置的侦测，由于人体是导体，当手指靠近电极时，手指与电极间的电容值会增加，通过检测电容变化量，即可确认触控位置。

目前，触控面板通常采用可产生形变的柔性面板，当单个或多个手指按压柔性面板时，面板的整个表面均会产生不同程度的形变，导致很难对各个手指的触控力度的大小进行检测。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种触控力检测方法、触控力检测装置、触控面板及显示装置，其可以实现对单个或多个手指的触控力度进行检测。

为实现本发明的目的而提供一种触控力检测方法，包括以下步骤：

S1，获得所述待检测面板的触控点数目N，N为大于或等于1的整数；

S2，任意选择所述待检测面板上的M个测试位置，M为大于或等于N的整数，并获得各个所述测试位置的电容变化量；所述电容变化量为在触摸所述待检测面板时，其感应电极与参考电极之间的电容在该测试位置处的变化量；

S3，根据各个所述测试位置处的所述电容变化量，获得各个所述测试位置的面板形变量；

S4，根据所述面板形变量与触控力的对应关系计算获得所述触控点处的触控力。

其中，在所述步骤S4中，当N＝1时，取M＝1，根据下述公式计算获得所述触控点处的触控力；

F＝kΔw

其中，F为所述触控点处的触控力；k为形变系数；Δw为所述测试位置的面板形变量。

其中，在所述步骤S4中，当N≥2时，取M≥2，通过求解下述联立方程式获得各个所述触控点处的触控力；

其中，w₁～w_M为第1个～第M个所述测试位置处的所述面板形变量；P_i为单独在所述待检测面板的第i个所述触控点施加的触控力，i＝1,2,...,N；f_i1～f_iM为P_i分别在第1个～第M个所述测试位置处的形变权重。

其中，在所述步骤S3中，根据下述公式进行反推计算，获得各个所述测试位置的面板形变量；

其中，ΔC_FT为电容变化量；ε为介电系数；A为所述感应电极与参考电极之间的单位面积；w为所述感应电极与参考电极之间的原始距离；Δw为面板形变量。

优选的，在完成所述步骤S1之后，且进行所述步骤S3之前，还包括以下步骤：

排除所述待检测面板的N个触控点的位置信息。

优选的，所述测试位置包括点或者具有预设面积的区域。