[发明专利]一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法在审
| 申请号： | 201710142767.1 | 申请日： | 2017-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN106872882A | 公开（公告）日： | 2017-06-20 |
| 发明（设计）人： | 陈晓红;李仁三 | 申请（专利权）人： | 四川鸿创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司51230 | 代理人： | 李春芳 |
| 地址： | 610011 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 低温 试验 板卡 批量 测试 方法 | ||
1.一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：利用现成高低温箱制作出用于测试的底板，且每个底板上至少设有一个板卡安装位置；
步骤二：将至少一层待测试的板卡与底板叠加，并固定在板卡安装位置；
步骤三：将底板通信连接于一个上位机，进行高低温测试，并得到测试结果。
2.如权利要求1所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，板卡的测试需进行烧录程序，烧录程序的方式为两种：a).在测试前提前烧录；b).在测试的过程中烧录。
3.如权利要求1所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，高低温测试的测试项目包括高低温工作测试和高低温存储测试。
4.如权利要求3所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，高低温工作测试的测试步骤如下：
步骤一：将板卡降到需要的低温，并保持两小时；
步骤二：选择是否提前烧录程序；若选择是，则直接测试板卡功能；否则，先烧录程序，再测试板卡功能；
步骤三：将板卡升到需要的高温，并保持两小时；
步骤四：重复步骤二；
步骤五：板卡功能测试完毕后，将板卡温度降到常温，至此，测试结束。
5.如权利要求3所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，高低温存储测试的测试步骤如下：
步骤一：将板卡降到需要的低温，并保持两小时；
步骤二：烧录程序；
步骤三：将板卡升到需要的高温，并保持两小时；
步骤四：重复步骤二；
步骤五：程序烧录完毕后，将板卡温度降到常温，至此，测试结束。
6.如权利要求1所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，测试底板包括一个能够进行通断控制的电源。
7.如权利要求6所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，电源输出电压的大小为+5V或12V。
8.如权利要求1所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，步骤二中，板卡与底板水平放置。
9.如权利要求1～8任一项所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，在高低温测试时，待测试板卡的叠加层数为两层或三层。
10.如权利要求1所述的一种适用于高低温试验的板卡批量测试方法，其特征在于，每个底板上板卡安装位置为两个及两个以上。
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