[发明专利]一种超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统

权利要求书

1.一种超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统，其特征在于，包括：太赫兹矢量光场调节装置、太赫兹空间调制器装置、空间光调制装置、共焦显微装置、太赫兹信号接收装置及数据处理装置，其中：

所述太赫兹矢量光场调节装置包括太赫兹源、准直透镜和太赫兹相位板，所述太赫兹相位板用于调节太赫兹波的矢量光场；

所述太赫兹空间调制器装置包括太赫兹空间调制器，所述太赫兹空间调制器用于改变入射的太赫兹波传输角度；

所述空间光调制装置包括激光器和空间光调制器，所述空间光调制器用于调节所述激光器出射的激光光强的空间分布；

所述共焦显微装置包括第一透镜、成像样品、第二透镜及聚焦针孔；

所述太赫兹源出射的太赫兹波经所述准直透镜准直后透过所述太赫兹相位板，形成太赫兹矢量光场，所述激光器出射的激光光束经所述空间光调制器调制后与所述太赫兹矢量光场同时入射至所述太赫兹空间调制器；

经所述太赫兹空间调制器调制后的所述太赫兹矢量光场再由反射镜反射进入所述第一透镜，并经所述第一透镜聚焦于所述成像样品上，所述太赫兹矢量光场激发所述成像样品产生携带样品信息的太赫兹波；

所述携带样品信息的太赫兹波经所述第二透镜聚集后穿过位于所述第二透镜焦点处的聚焦针孔，所述太赫兹信号接收装置探测所述携带样品信息的太赫兹波信号，再经所述数据处理装置处理后得到成像样品的超分辨率图像；

所述聚焦针孔安装于可旋转的转盘上，所述转盘设置于平移台上，所述平移台可沿水平方向移动。

2.根据权利要求1所述的超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统，其特征在于，所述激光器出射的激光波长为1550nm。

3.根据权利要求2所述的超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统，其特征在于，所述第一透镜及第二透镜为Teflon聚焦透镜。

4.根据权利要求1所述的超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统，其特征在于，所述太赫兹矢量光场垂直入射至所述太赫兹空间调制器，并在所述太赫兹空间调制器上形成入瞳空间滤波。

5.根据权利要求1所述的超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统，其特征在于，所述太赫兹信号接收装置包括太赫兹探测器，所述太赫兹探测器用于记录携带成像物品的太赫兹光波的信息。

6.根据权利要求1所述的超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统，其特征在于，所述数据处理装置包括计算机，所述计算机用于将采集到的携带样品信息的太赫兹波信号恢复出成像样品的超分辨率图像。