[发明专利]数据程序化方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元

权利要求书

1.一种数据程序化方法，其特征在于，用于可复写式非易失性存储器模块，所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体抹除单元，所述数据程序化方法包括：

将所述多个实体抹除单元划分为多个第一类实体抹除单元与多个第二类实体抹除单元，其中所述多个第一类实体抹除单元的程序化模式被预设为第一程序化模式，并且所述多个第二类实体抹除单元的程序化模式被预设为第二程序化模式；

为所述多个实体抹除单元之中的每一个实体抹除单元记录使用参数；

根据所述多个第一类实体抹除单元的使用参数与所述多个第二类实体抹除单元的使用参数获取变更参数；

从主机系统接收写入数据；

判断所述变更参数是否符合第一变更条件，其中判断所述变更参数是否符合所述第一变更条件的步骤之前，设定所述多个第一类实体抹除单元为使用区域；以及

倘若判定所述变更参数符合所述第一变更条件时，设定所述多个第二类实体抹除单元为所述使用区域，从所述多个第二类实体抹除单元中选取至少一实体抹除单元，并使用所述第一程序化模式将所述写入数据程序化至从所述多个第二类实体抹除单元中选取的至少一实体抹除单元中，

其中当所述多个第二类实体抹除单元被设定为所述使用区域时，判断所述变更参数是否符合第二变更条件，

倘若判定所述变更参数符合所述第二变更条件时，设定所述多个第一类实体抹除单元为所述使用区域，从所述多个第一类实体抹除单元中选取至少一实体抹除单元并且使用所述第一程序化模式将所述写入数据程序化至从所述多个第一类实体抹除单元中选取的至少一实体抹除单元中。

2.根据权利要求1所述的数据程序化方法，其特征在于，上述判断所述变更参数是否符合所述第一变更条件的步骤包括：

判断所述变更参数是否大于第一门槛值；以及

当所述变更参数大于所述第一门槛值时，判定所述变更参数符合所述第一变更条件。

3.根据权利要求1所述的数据程序化方法，其特征在于，上述判断所述变更参数是否符合所述第二变更条件的步骤包括：

判断所述变更参数是否小于第二门槛值；以及

倘若所述变更参数小于所述第二门槛值，判定所述变更参数符合所述第二变更条件。

4.根据权利要求1所述的数据程序化方法，其特征在于，还包括：

判断所述写入数据是否符合数据条件；以及

当判定所述写入数据符合所述数据条件时，执行上述判断所述变更参数是否符合所述第一变更条件的步骤。

5.根据权利要求4所述的数据程序化方法，其特征在于，上述判断所述写入数据是否符合所述数据条件的步骤包括：

判断所述写入数据的数据量是否大于数据量门槛值；以及

当所述写入数据的数据量不大于所述数据量门槛值时，判定所述写入数据符合所述数据条件。

6.根据权利要求4所述的数据程序化方法，其特征在于，判断所述写入数据是否符合所述数据条件的步骤包括：

判断所述写入数据是否为系统数据；以及

当所述写入数据为所述系统数据时，判定所述写入数据符合所述数据条件。

7.根据权利要求1所述的数据程序化方法，其特征在于，上述根据所述多个第一类实体抹除单元的使用参数与所述多个第二类实体抹除单元的使用参数获取所述变更参数的步骤包括：

根据所述多个第一类实体抹除单元的抹除次数计算第一平均抹除次数，并且根据所述多个第二类实体抹除单元的抹除次数计算第二平均抹除次数；以及

根据所述第一平均抹除次数与所述第二平均抹除次数计算抹除次数比例以获取所述变更参数。

8.根据权利要求1所述的数据程序化方法，其特征在于，上述根据所述多个第一类实体抹除单元的使用参数与所述多个第二类实体抹除单元的使用参数获取所述变更参数的步骤包括：

根据所述多个第一类实体抹除单元的程序化次数计算第一平均程序化次数，并且根据所述多个第二类实体抹除单元的程序化次数计算第二平均程序化次数；以及

根据所述第一平均程序化次数与所述第二平均程序化次数计算程序化次数比例以获取所述变更参数。