[发明专利]一种陶瓷墙地砖质量在线检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及陶瓷技术领域，尤其涉及一种陶瓷墙地砖质量在线检测方法。

背景技术

瓷砖在生产过程中需要对其进行平整度检测，在成型工序中，要求瓷砖坯必须具有一定的平整度，如果砖坯的某一部分过厚将会大大影响瓷砖坯的质量，严重的则会成为废品。

现有瓷砖坯平整度检测主要是通过人工测量方式，其方法是将瓷砖坯铺设在平整的地面或平整的工作台上，然后用平整度尺在陶瓷砖坯的表面检测其四边及中心位置，这种方式的检测效率低，劳动强度大，测量误差大，有时还受工人技术水平和责任心的影响，若水平不够高责任心不强，则会降低成品率，不利于在大批量的陶瓷砖生产线上进行检测。

因此，如何设计出一种自动化的专业测量陶瓷砖坯表面平整度装置已成为陶瓷机械行业研究的话题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种准确率高、速度快的陶瓷墙地砖质量在线检测方法，可满足多种尺寸、颜色及花纹的墙地砖平整度、变形度检测。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种陶瓷墙地砖质量在线检测方法，在输送机构的传输路径上设置检测工位，所述检测工位上方装设有基准板，所述基准板上分布有多个位移传感器，所述陶瓷墙地砖质量在线检测方法包括：

S1，调整瓷砖坯的入砖姿态，将瓷砖坯放置于输送机构上并使瓷砖坯随输送机构运动；

S2，瓷砖坯随输送机构进入检测工位；

S3，位移传感器实时采集检测工位上瓷砖坯的表面特征点信息，所述表面特征点信息包括位移传感器与瓷砖坯表面的距离值、瓷砖坯表面的杂质信息、瓷砖坯的尺寸信息；

S4，根据表面特征点信息对瓷砖坯进行平整度分级处理；

S5，瓷砖坯随输送机构输出检测工位。

作为上述方案的改进，所述基准板包括对角线基准板、X轴边线基板及Y轴边线基准板；所述对角线基准板上分布的位移传感器构成对角线扫描系统，用于检测瓷砖坯对角线上的表面特征点信息；所述X轴边线基板上分布的位移传感器构成X轴边线扫描系统，用于检测瓷砖坯X轴方向上的边线的表面特征点信息；所述Y轴边线基板上分布的位移传感器构成Y轴边线扫描系统，用于检测瓷砖坯Y轴方向上的边线的表面特征点信息。

作为上述方案的改进，检测400mm×400mm及以下的瓷砖坯时，设置九个检测点；检测600mm×600mm及以下的瓷砖坯时，设置二十五个检测点；检测800mm×800mm及以下的瓷砖坯时，设置四十九个检测点；检测1000mm×1000mm及以下的瓷砖坯时，设置八十一个检测点；所述各检测点上分别设置独立的位移传感器。

作为上述方案的改进，所述步骤S3之后还包括：根据表面特征点信息构建瓷砖坯变形曲线，其中，所述瓷砖坯变形曲线以距离值的最高值为龟背值，以距离值的最低值为上翘值，以瓷砖坯对角线作为水平参考线。

作为上述方案的改进，所述步骤S1中，通过自动对中装置调整瓷砖坯的入砖姿态。

作为上述方案的改进，所述步骤S3中，位移传感器感应到随输送机构进入检测工位时，发出信号给控制器，并在控制器的控制下采集检测工位上瓷砖坯的表面特征点信息。

作为上述方案的改进，所述检测工位上设置有检测台，所述检测台底部安装有用于防止检测台变形的变形调节装置。

作为上述方案的改进，所述基准板的平整度综合误差小于0.01mm。

作为上述方案的改进，所述输送机构为宽皮带输送机构。

作为上述方案的改进，所述位移传感器为激光位移传感器。

实施本发明，具有如下有益效果：

本发明在陶瓷生产中投入使用，使用效果表明：具有良好的重复精度和可靠性，能够满足多种尺寸、颜色及花纹的墙地砖平整度、变形度检测，能够适应国内陶瓷企业生产环境要求（生产线环境差、传送速度高、干扰因素多），满足国内陶瓷生产企业对瓷砖平整度检测的实际需要，简化了平整度的复杂计算，对提高质检准确率，降低工人劳动强度和提高工业自动化程度有重要意义。

附图说明

图1是本发明陶瓷墙地砖质量在线检测方法的实施例流程图；

图2是本发明中陶瓷墙地砖质量在线检测设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述。仅此声明，本发明在文中出现或即将出现的上、下、左、右、前、后、内、外等方位用词，仅以本发明的附图为基准，其并不是对本发明的具体限定。

参见图1，图1显示了本发明陶瓷墙地砖质量在线检测方法的实施例流程图，包括：