[发明专利]利用SDBD和发射光谱检测OH浓度的实验装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710124013.3 申请日: 2017-03-06
公开(公告)号: CN106872417B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 王文春;赵紫璐;杨德正;袁皓;张丽;王森 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63;G01N21/67
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 赵连明
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 利用 sdbd 发射光谱 检测 oh 浓度 实验 装置 方法
【说明书】:

一种利用SDBD和发射光谱检测OH浓度的实验装置及方法,属于等离子技术领域。主要由环形线‑线式SDBD发生器(1),电源系统(2),供气系统(3),紫外光源系统(4),和发射光谱诊断系统(5)组成。由纳秒脉冲电源激励产生沿面介质阻挡放电等离子体,利用紫外光源和发射光谱技术,检测等离子体中OH自由基绝对浓度的。在检测OH绝对浓度时,首先检测仅紫外光的发射光谱,再检测紫外光通过放电等离子体区域后的发射光谱,最终计算得到OH自由基的绝对浓度。本发明可以解决传统技术检测活性物种绝对浓度时,操作复杂、设备昂贵等缺点。

技术领域

本发明属于等离子体技术领域。特别是涉及一种由纳秒脉冲电源或正弦交流电源,激励产生沿面介质阻挡放电等离子体,利用紫外光源和发射光谱技术,检测等离子体中OH自由基绝对浓度的实验装置及方法。

技术背景

近年来,放电等离子体由于其在材料改性、杀毒灭菌、污染物处理等方面的大量应用,得到了广泛的关注和研究。在装置简易、应用便捷的大气压空气放电中,放电等离子体能够产生大量的活性氮基团和活性氧基团,如N2(C)、N2(B)、N2(A)、OH、O、O3等。这些活性物种,尤其是活性氧基团中的OH等,在污染物处理和杀毒灭菌中起到了重要作用。因此,对于活性物种的绝对浓度检测是等离子体应用中的重要一环。活性物种的检测手段主要有激光诱导荧光、光腔衰荡光谱、发射光谱等,其中,光腔衰荡光谱则可以探测等离子体中活性物种的绝对浓度,而激光诱导荧光技术可以利用强激光器使等离子体基态粒子激发,从而探测基态粒子的存在。激光诱导荧光同样可以探测活性物种的绝对浓度,但在检测前需要进行复杂的标定。同时,这两种技术存在设备昂贵、操作复杂等缺点。而发射光谱技术是非探入式在线诊断技术,可以简单、便捷的检测等离子体中存在的活性物种,且在诊断前并不需要复杂的光路校准和标定等工作。同时,OH自由基主要产生于紫外带,能够良好的吸收紫外光。因此,本发明旨在提供一种利用发射光谱技术和紫外光源,检测放电等离子体中OH活性物种绝对浓度的实验装置及方法。

介质阻挡放电是产生放电等离子体的一种常见方式,介质阻挡放电通常有两种基本结构,即体积介质阻挡放电(VDBD和沿面介质阻挡放电(SDBD。VDBD通常由电极、介质板、气体间隙组成,微放电通道从一个电极产生,穿过气体间隙后到达另一电极,从而形成放电等离子体。而SDBD通常并不存在气体间隙,高压电极和地电极分别存在于介质材料两侧,放电沿介质板表面产生。由于沿面放电的等离子体区域集中,比起体积放电,沿面放电具有较高的能量效率,且能够产生较多的活性物种。同时,由于沿面放电产生于介质板表面,SDBD的放电区域可以更好地控制。因此,本发明中的待检测OH自由基由沿面介质阻挡放电等离子体产生。

发明内容

为了解决检测活性物种绝对浓度技术复杂、实验设备昂贵、等离子体区域不集中、不易受控制等问题,本发明提出了利用SDBD和发射光谱检测OH浓度的实验装置及方法。

本发明提供了一种利用SDBD和发射光谱检测OH浓度的实验装置,主要由环形线式SDBD发生器,电源系统,供气系统,紫外光源系统,和发射光谱诊断系统组成;放电等离子体由电源系统激励,在环形线式SDBD发生器中产生,由供气系统提供放电的气体氛围并保持一定的气体组分和流速,由紫外光源系统提供光源,发射光谱诊断系统进行在线光学诊断。

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