[发明专利]一种基于电磁定位与超声成像的胎头方位测量方法在审
申请号: | 201710122274.1 | 申请日: | 2017-03-03 |
公开(公告)号: | CN106963378A | 公开(公告)日: | 2017-07-21 |
发明(设计)人: | 杨荣骞;张哲思;李春田;林钦永;黄岳山 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | A61B5/05 | 分类号: | A61B5/05;A61B8/08 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司44245 | 代理人: | 罗观祥 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 电磁 定位 超声 成像 方位 测量方法 | ||
技术领域
本发明属于医学超声成像与电磁定位技术融合领域,尤其是指一种基于电磁定位与超声成像的胎头方位测量方法。
背景技术
胎先露系胎儿最先入盆的部分,胎头方位是指胎先露与母体骨盆的位置关系。即使是胎头先露,可因胎儿的不同卧姿分为枕前位、枕横位、枕后位等八种不同的胎头方位。胎式及胎位异常可引致难产,因此正确、快捷地检查胎头方向,对于及时矫正胎位、促进顺产,有着极其重要的作用。
目前临床检查确定胎头方位的方法有三种:
通过整手放入产道进行检查,这是一种较为传统的方法,依据触摸矢状缝、前后卤门及耳廓的方向来确定胎头的方位,一般要求宫口开大6~7cm时才能实行。如果此时由于头盆不称,产程过长造成胎儿颅骨重叠,前后卤门发生形状改变,触摸分辨菱形或三角形就有一定的困难,容易造成判断错误。另外,通过检查耳廓的发现来确定胎头的方位,实施此项检查时检查者要将手完全进入产妇的阴道,病人常感觉非常痛苦,并容易造成软产道及宫颈损伤。
通过食指及中指放入产道进行检查。这种方法可以在宫口开大2~3cm时实行,通过食指及中指触摸胎头,找到矢状缝、卤门的位置来确定胎头方位。这种方法相较于前一种方法,可以减少对产妇的痛苦,但也需要进行外阴消毒后将手指放入产道内才能进行检查。
通过超声进行体外检查,例如通过超声扫描胎儿外耳来确定胎头方位。受胎头方位的影响,胎儿外耳不能在所有情况下都扫描出来,这导致在正枕前、正枕后的胎头方位时正确率较高,但在其余的胎头方位正确率较低。不能很好的满足临床需求。
因此,设计一种体外检查胎头方位的方法,实现正确、快捷地确定胎头方位的方法,对于减轻产妇负担、提高分娩的安全性有很大的必要,是现有技术中亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺点与不足,提出了一种基于电磁定位与超声成像的胎头方位测量方法,能够正确、快捷地确定胎头方位,从而减轻产妇负担,提高分娩的安全性。
为实现上述目的,本发明所提供的技术方案为:一种基于电磁定位与超声成像的胎头方位测量方法,包括以下步骤:
1)以电磁定位系统发射器为中心,建立世界坐标系OXYZ;
2)通过电磁定位系统测量产妇第五腰椎棘突C点的三维坐标;
3)测得耻骨联合上缘A点的三维坐标、耻骨联合下缘B点的三维坐标,由此计算出矢状面的法向量
4)用一体化探头横向扫描孕妇腹腔,获取包含胎头解剖学特征点的超声图像,并由此确定测量模式;
5)计算胎儿眼眶、胎儿颈椎、胎儿脑中线、胎儿双顶径四种测量模式下的方向向量其中双顶径模式需计算双顶径平面与矢状面的夹角;
6)计算各方向向量与矢状面法向量的夹角θ;
7)由夹角θ加180°即可求出胎头方位最终数值θ',由此可得胎头方位。
在步骤2)中,所述第五腰椎棘突C点的三维坐标c由固定在产妇背部的参考传感器测得。
在步骤3)中,测得耻骨联合上缘A点的三维坐标、耻骨联合下缘B点的三维坐标,由此计算出矢状面的法向量的过程为:首先,通过电磁定位传感器测得耻骨联合上缘A点的三维坐标、耻骨联合下缘B点的三维坐标,然后计算出由C点指向B点的参考方向向量及由C点指向A点的参考方向向量两个相交向量所在平面即为矢状面,矢状面的法向量由公式:计算得到。
在步骤4)中,根据扫描到的解剖学标记点分别选择对应的测量模式,共有四种模式:眼眶模式、脑中线模式、颈椎模式及双顶径模式。
在步骤5)中,各模式的方向向量(具体为)计算方法如下:
眼眶模式:计算第五腰椎棘突C及耻骨联合上缘A连线的中点坐标D,通过一体化探头扫描后,得到两个眼眶标记点在世界坐标系下的坐标,计算两眼眶中点坐标E,由点D指向点E的方向向量即为所求;
脑中线模式:通过一体化探头扫描后,得到枕额径两个标记点在世界坐标系下的坐标,分别即为F、G;计算枕额径方向向量方向指向额头,即为所求;
颈椎模式:通过一体化探头扫描后,得到颈椎截点在世界坐标系下的坐标,记为H,计算第五腰椎棘突C与耻骨上缘A连线的中心点I,求中心点I指向颈椎截点H的方向向量即为所求;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710122274.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于快速获得诱发复合动作电位记录的方法和系统
- 下一篇:一种太赫兹成像系统