[发明专利]一种微通道半导体激光器芯片结构及其制作方法有效
| 申请号: | 201710115702.8 | 申请日: | 2017-02-28 |
| 公开(公告)号: | CN108512031B | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
| 发明(设计)人: | 苏建;朱振;夏伟;李沛旭;徐现刚 | 申请(专利权)人: | 山东华光光电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01S5/024 | 分类号: | H01S5/024;H01S5/343 |
| 代理公司: | 37224 济南日新专利代理事务所 | 代理人: | 王书刚 |
| 地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 激光器 发光区 外延片 微通道 量子阱有源区 腐蚀 金属 制作 半导体激光器芯片 微通道激光器 激光器芯片 腐蚀表面 芯片结构 依次设置 限制层 衬底 帽檐 蒸镀 芯片 侧面 | ||
1.一种微通道激光器芯片结构的制作方法,所述微通道激光器芯片结构,包括外延片,外延片包括自下至上依次设置的衬底、N限制层、量子阱有源区、AlGaInP层和GaAs层,其特征是:在AlGaInP层和GaAs层上腐蚀出条形发光区,量子阱有源区及条形发光区上设置有SiO2层,SiO2层上设置有P面金属,P面金属与条形发光区的侧面之间设置有微通道;其特征是:包括如下步骤:
(1)在激光器外延片的表面光刻出条形发光区,条形发光区的宽度为2-10μm;
(2)腐蚀表面GaAs,然后腐蚀AlGaInP;
(3)控制腐蚀时间,使AlGaInP的腐蚀宽度W2小于GaAs宽度W1,形成帽檐;
(4)在激光器外延片上进行SiO2层和P面金属的蒸镀;
(5)蒸镀P面金属后,将外延片放到氢氟酸腐蚀液里腐蚀2-3分钟,使氢氟酸通过帽檐的缝隙渗透到条形发光区的两侧,并将SiO2层腐蚀掉;
(6)再将外延片放到盐酸与水质量比20:1的稀盐酸腐蚀液里 ,腐蚀40-60秒,使稀盐酸通过帽檐的缝隙渗透到条形发光区的两侧,并将AlGaInP腐蚀掉,形成左右两个微通道。
2.根据权利要求1所述微通道激光器芯片结构的制作方法,其特征是:所述步骤(1)中条形发光区上设置有保护光刻胶。
3.根据权利要求1所述微通道激光器芯片结构的制作方法,其特征是:所述步骤(3)中AlGaInP的腐蚀宽度W2比GaAs宽度W1小0.2-0.5μm。
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