[发明专利]减少光斑的成像系统和相关的图像传感器有效
申请号: | 201710111802.3 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN107222663B | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 林昭弘;李洪军;陈炳旭;朱朱 | 申请(专利权)人: | 豪威科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋融冰 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 减少 光斑 成像 系统 相关 图像传感器 | ||
一种能够捕获由透镜形成的像的图像传感器包括基板和焊线。基板具有像素阵列,和像素阵列和基板边缘之间的基板的上表面上的焊盘。焊线电连接至焊盘并具有相对于基板上表面形成非零角的区域。非零角在用于最小化区域上的入射光的反射到达图像传感器的低角度范围和高角度范围的至少一个中。选择低角度范围使得区域将入射光远离像素阵列朝向包括透镜的平面反射。选择高角度范围使得区域将入射光反射至焊盘和像素阵列之间的空隙。
技术领域
本发明涉及光学领域,尤其涉及减少光斑的成像系统和相关的图像传感器。
背景技术
大容量消费品(例如移动设备和电动汽车)通常包括至少一个数字照相机。例如,图1示出具有集成其中的照相机模块180的移动设备190。照相机模块180包括透镜170下方的图像传感器110。图像传感器110包括像素阵列112。
照相机模块180捕获的图像的质量取决于许多因素。这些因素的一个是到达图像传感器110的杂散光的量。改善图像质量的一种方法是最小化由杂散光引起的图像伪影(artifact),即最小化经过透镜170和像素阵列112之间的元件反射到达像素阵列112的透镜170透射的光。
发明内容
在此公开的实施例包括经过消除杂散光源的具有改善的图像质量的图像传感器。
在第一方面中,减少光斑的成像系统包括图像传感器、透镜和焊线。图像传感器具有在基板的上表面上形成的像素阵列,基板包括在像素阵列和基板的边缘之间的基板上表面上的焊盘。透镜在像素阵列之上且具有与其正交的光轴。焊线电连接至焊盘,并具有相对于基板上表面形成非零角且远离光轴延伸的区域。非零角在用于最小化区域上的入射光的反射到达图像传感器的低角度范围和高角度范围的至少一个中。选择低角度范围使得区域将入射光远离像素阵列朝向包括透镜的平面反射。选择高角度范围使得区域将入射光反射至焊盘和像素阵列之间的空隙。
在第二方面中,能够捕获由具有与其正交的光轴的透镜形成的像的减少光斑的图像传感器包括基板和焊线。基板具有其上形成的像素阵列,并包括在像素阵列和基板的边缘之间的基板的上表面上的焊盘。焊线电连接至焊盘并具有相对于基板上表面形成非零角且远离像素阵列延伸的区域。非零角在用于最小化区域上的入射光的反射到达图像传感器的低角度范围和高角度范围的至少一个中。选择低角度范围使得区域将入射光远离像素阵列朝向包括透镜的平面反射。选择高角度范围使得区域将入射光反射至焊盘和像素阵列之间的空隙。
附图说明
图1示出具有集成其中的照相机模块的移动设备。
图2是包括透镜和图像传感器的成像系统的平面图。
图3是连接至图像传感器的示出焊线反射的光的路径的图2的成像系统的剖视图。
图4是实施例中具有减少光斑的图像传感器的减少光斑的成像系统的平面图,其中减少光斑的图像传感器具有将光反射远离图像传感器的像素阵列的焊线。
图5是实施例中示出焊线反射的光的路径的图4的成像系统的剖视图,其中路径是远离图像传感器。
图6是实施例中使得入射光被反射远离图像传感器的焊线的最大允许角的示例性图。
图7示出实施例中附接至图4的减少光斑的图像传感器的具有相对于图像传感器平面形成不同角的部分的焊线。
图8是实施例中具有将光朝向焊线和图像传感器的像素阵列之间的空隙反射的焊线的减少光斑的图像传感器的剖视图。
图9是实施例中使得入射光被朝向焊线和图像传感器的像素阵列之间的空隙反射的焊线的最小允许角的示例性图。
图10示出实施例中附接至图8的减少光斑的图像传感器的具有相对于图像传感器平面形成不同角的部分的焊线。
具体实施方式
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