[发明专利]一种用于检测单个金纳米颗粒表面生物分子的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201710111459.2 申请日: 2017-02-28
公开(公告)号: CN106918543A 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 张鲁凝;黄亚琴 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司31225 代理人: 王小荣
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 检测 单个 纳米 颗粒 表面 生物 分子 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及生物分子及构象的检测技术领域,具体涉及一种用于检测单个金纳米颗粒表面生物分子的装置及方法。

背景技术

在与疾病相关的生物分子检测发展与应用过程中,人们对于检测方法的灵敏度,检测极限,便携度提出了越来越高的要求。例如核酸的检测中,传统的PCR方法和设备难以实现短周期,小型化的检测;与肿瘤诊断相关的肿瘤标志物的检测中,标志物含量很低,传统方法如放射免疫分析等用到放射性同位素,对人体和环境均有损害,并且操作繁琐。近些年微纳米技术的发展,为解决上述与疾病相关的生物分子检测方面的问题提供了机遇。

金纳米颗粒是近年研究最为广泛的纳米材料之一,它具有良好的生物相容性、化学稳定性以及独特的光学性质,在生物分子检测、诊断和治疗方面具有很大的发展潜力。尤其是金纳米颗粒显示出特殊的局域表面等离子体共振特性(Localized surface plasmon resonance,LSPR)。在外界电磁场作用下,金纳米颗粒表面的自由电子产生极化,当外界电磁场发生交替时,金纳米颗粒表面电子的极化方向也发生交替变化,这使得自由电子也随着产生往复运动,当电磁场的变化频率与金属纳米颗粒表面自由电子的固有运动频率相等时会产生共振使得表面等离子体的集体震荡大幅度增强,导致金纳米颗粒表面产生强电磁场,并最终增强了诸如吸收和散射的辐射特性。

金纳米颗粒的表面等离子共振频率会随着颗粒的大小,颗粒间的距离,周围环境的介电常数等因素发生变化。因此,我们可以将金纳米颗粒用来传感一些生物分子如蛋白质、DNA的存在及其构象变化。

局域表面等离子体共振在很多领域都有应用,但大多数都是应用的暗场显微镜进行检测。比如最基本的通过检测金纳米颗粒的吸收峰位移,就可以判断出其周围介质的变化。先在金纳米颗粒表面通过金硫键修饰上带巯基的检测单链DNA,当体系中加入与之互补的目标DNA时,DNA杂交,导致金纳米颗粒表面的介电常数发生改变,从而使得金纳米颗粒的等离基元吸收峰发生红移。通过CCD光谱仪收集散射光,根据散射光红移的程度可以实时追踪DNA杂交过程。但是单颗粒的检测本身噪声就是很大的,而在DNA构象变化过程中收集全光谱再进行数据拟合,找到峰位移的方法,不确定度比较大。因为变化过程中金纳米颗粒的局域等离子体吸收红移的程度也是比较小的,文献报道的吸收峰红移量达到最大值也只有2.0nm。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种高灵敏度、高信噪比、少试剂量、半自动化的用于金纳米颗粒表面生物分子及构象的检测装置及方法。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:一种用于检测单个金纳米颗粒表面生物分子的装置,所述装置包括光热系统、用于寻找和选择单个金纳米颗粒的暗场显微镜、放置在暗场显微镜样品台上的微流控芯片样品以及用于检测光信号的雪崩二极管,所述光热系统发射加热光和检测光并聚焦在微流控芯片样品上,从微流控芯片样品中反射出来的检测光原路返回至雪崩二极管中,所述加热光和检测光到达微流控芯片样品处时共焦点。本发明的装置采用暗场显微镜,可以找出微流控芯片样品中比较合适的单个金纳米颗粒,然后对该单个金纳米颗粒进行单独分析。通过将加热光和检测光共焦点,当微流控芯片样品吸收加热光后会形成类似热透镜,从而引起检测光的发散角度以及偏振方向的变化,所以通过分析检测光的变化即可知样品中金纳米颗粒所处的微环境情况。

所述的光热系统包括检测光发射单元以及加热光发射单元,所述检测光发射单元发射出的检测光和加热光发射单元发射出的加热光在二向色镜处重合,聚焦在微流控芯片样品上。

所述的加热光发射单元包括依次设置的绿色激光器、斩波器、一号偏振片、一号1/2波片以及一号扩束器,一号扩束器得到的加热光射在二向色镜上,并通过二向色镜的反射聚焦在微流控芯片样品上。绿色激光器发出的激光的波长为520~550nm。

所述的加热光为圆偏振光,加热光的频率为400~1000HZ,加热光的功率为0~50mW。

所述的检测光发射单元包括依次设置在的红色激光器、二号偏振片、二号1/2波片、二号扩束器及分光棱镜,所述分光棱镜中射出检测光透过二向色镜,并和加热光重合,然后聚焦在微流控芯片样品上,检测光聚焦到微流控芯片样品后原路返回,并透过二向色镜到达分光棱镜,然后射入雪崩二极管中,获得光热信号。红色激光器发出的激光的波长为620~650nm。

所述的检测光为线偏振光。

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