[发明专利]一种光电自准直经纬仪在审
申请号: | 201710107264.0 | 申请日: | 2017-02-27 |
公开(公告)号: | CN106767679A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 王国名;劳达宝;周维虎;张滋黎;董登峰;袁江;纪荣祎;石俊凯;程智;王岩庆;范百兴;崔成君;郭晓晓 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电研究院 |
主分类号: | G01C1/02 | 分类号: | G01C1/02 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司11403 | 代理人: | 王安娜,李翔 |
地址: | 100094*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 经纬仪 | ||
技术领域
本发明涉及光学检测技术领域,特别是涉及一种共光路的光电自准直经纬仪。
背景技术
随着我国航天事业的大力发展,航天载荷系统装调检测任务更加繁重和复杂,要求测量设备应具有更高精度、更加便携、更加集成的功能。传统的电子经纬仪、自准直仪等仪器已经不能满足高效高质完成组合参数测量和复杂检测任务的要求。而且,现有的自准直仪存在检测精度不够高,光路结构复杂的技术问题。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提出一种光电自准直经纬仪,以提高检测准确性,同时简化光路结构。
本发明提供的光电自准直经纬仪包括激光器、偏振分光镜、1/4玻片、光束准直镜、补偿镜、调焦镜、物镜、反射镜和位置探测器,所述激光器用于发出偏振光束,偏振光束依次透过偏振分光镜、1/4玻片、光束准直镜、补偿镜、调焦镜、物镜,经物镜的出射光束经过反射镜反射后,依次透过物镜、调焦镜、补偿镜、光束准直镜、1/4玻片、偏振分光镜,所述偏振分光镜再将光束反射至位置探测器。
在本发明的一些实施例中,所述激光器为固定偏光器,用于发出p波偏振光束,缩束光束经过1/4玻片后,偏振态变成s波。
在本发明的一些实施例中,所述偏振分光镜与位置探测器之间设置有滤光片,光束经过滤光片会聚在位置探测器上。
在本发明的一些实施例中,所述偏振分光镜与滤光片之间设置有聚焦镜。
在本发明的一些实施例中,所述物镜为望远物镜。
在本发明的一些实施例中,所述调焦镜为内调焦镜。
在本发明的一些实施例中,所述光电自准直经纬仪的分辨力为:
其中,M为准直扩束倍数,f'为聚焦镜的焦距,Δh-位置探测器的分辨力,ρ-转换系数。
在本发明的一些实施例中,所述光电自准直经纬仪还包括扩普罗棱镜、分光镜、聚焦镜补偿镜、目视分划板和目镜,偏振光束依次透过偏振分光镜、1/4玻片、光束准直镜、分光镜、普罗棱镜、补偿镜、调焦镜、物镜,经物镜的出射光束经过反射镜反射后,依次透过物镜、调焦镜、补偿镜、普罗棱镜、分光镜、光束准直镜、1/4玻片、偏振分光镜,所述偏振分光镜再将光束反射至位置探测器。
在本发明的一些实施例中,所述光电自准直经纬仪还包括毛玻璃和照明LED。
从上面的所述可以看出,本发明提供的光电自准直经纬仪具有便携、精度高且环境适应性较强等特点,集成了传统电子经纬仪和光电自准直仪双重功能,既能作为方位测量的基本工具,同时具备失准角测量功能,实现方便、结构简单,具有较高的测量精度。可以在精密仪器的安装、调试和检测过程中发挥巨大作用,也可推广应用于大尺寸、形状、位置测量,以及机床和机器人几何误差的精确标定,大型工装的安装定位等,应用前景很广。
附图说明
图1为本发明一个实施例的光电自准直经纬仪的结构示意图;
图2为图1中A的局部放大图;
图3为本发明另一个实施例的光电自准直经纬仪的结构示意图。
其中:101-激光器,102-光束准直镜,103-补偿镜,104-调焦镜,105-物镜,106-反射镜,107-1/4玻片,108-偏振分光镜,109-聚焦镜,110-滤光片,111-位置探测器;201-激光器,202-光束准直镜,203-补偿镜,204-调焦镜,205-物镜,206-反射镜;207-1/4玻片,208-偏振分光镜,209-聚焦镜,210-滤光片,211-位置探测器(PSD),212-普罗棱镜,213-分光镜,214-聚焦镜补偿镜,215-目视分划板,216-目镜,217-毛玻璃,218-照明LED。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
需要说明的是,发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量,可见“第一”“第二”仅为了表述的方便,不应理解为对发明实施例的限定,后续实施例对此不再一一说明。
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