[发明专利]一种吸收体吸收系数测量和同时光声成像的无损检测方法及其装置在审
申请号: | 201710107212.3 | 申请日: | 2017-02-27 |
公开(公告)号: | CN106725348A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 彭东青;朱莉莉;李志芳;李晖;叶高旭 | 申请(专利权)人: | 集美大学 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 361021 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 吸收体 吸收系数 测量 时光 成像 无损 检测 方法 及其 装置 | ||
技术领域
本发明涉及医学光子诊断方法及设备,特别是涉及一种生物组织的吸收体吸收系数测量和同时光声成像的无损检测方法及其装置。
背景技术
组织的光学吸收系数在反映组织生理状态及光动力疗法的计量确定中非常重要。由于组织对光传播的强散射作用,传统的组织光学还没有完全解决组织体光学吸收系数的无损测量。光声技术以光致超声的物理效应为基础,通过检测光声信号来反映组织体的光能量吸收的差异,因此探测到的光声信号包含大量的组织内吸收体的光学吸收系数信息。在光声成像技术中,由于探测的是超声信号,而组织体对超声信号的散射作用相对于光信号要弱2到3个数量级,可避免生物组织对光的强散射带来的光穿透深度和空间分辨率不足的问题。因此,自组织光声成像技术提出以来许多的研宄工作试图从探测的光声信号中挖掘出组织的光吸收系数。可以将目前形成的方法归纳为:一种是基于光声信号时域分布的测量方法,二是基于迭代算法的频域光声的测量方法。另外的基于在不同声波频率的相对变化的光声信号光谱信息也用于测量光吸收系数,但是这种方法需要采用两个不同波长,并忽略了波长相关的能流率的影响。一种结合光传输模型并利用小波变换修正光声信号多频率的传播衰减测量组织光学吸收系数的方法,由于采用外部光辐照和前向声探测并不适用于活体检测,且无法进行二维成像。因此,如何对深部活体组织吸收体展开无损、在体的快速测量吸收系数及成像对于组织光学和光热治疗等具有十分重要的意义。
发明内容
针对上述现有技术的不足,本发明提供一种吸收体吸收系数测量和同时光声成像的无损检测方法及其装置,所述检测方法能够无损的光声激发和光声信号采集,克服了波长相关的能流率的影响,结果无需校正,另外的容易同时进行吸收体的二维光声成像;所述检测装置简易,操作简便,便于临床推广。
本发明采用以下方案实现:一种吸收体吸收系数测量和同时光声成像的无损检测方法,包括以下步骤:
步骤S1:多光谱脉冲激光器输出的一定波长短脉冲激光经二维可调光纤耦合器至柱状弥散光纤;所述柱状弥散光纤经由嵌有纯吸收体的组织样品通道插入样品内部适当位置,在内部对样品进行无损全方位光辐照;
步骤S2:在柱状弥散光纤光源的激发下,样品内部多个空间位置的吸收体产生光声信号;光声信号经组织体与超声耦合液外传后由置于超声耦合液的水浸式长焦区聚焦超声换能器在样品外部无损接收,所述超声换能器受控于二维电控平移台;
步骤S3:水浸式长焦区聚焦超声换能器所接收的光声信号由低噪声脉冲超声收发器进行限幅、整形、滤波和放大后送入多通道数字荧光示波器,利用光电二极管同步接收脉冲激光并转化为光电信号触发示波器,进行信号监测与采集,所得信号经示波器取多次平均之后,通过GPIB卡把数据传给计算机以保存和处理;
步骤S4:利用计算机控制的步进电机精确控制并驱动二维电控可调平移台对水浸式长焦区聚焦超声换能器做直线平移实现扫描获取光声数据,逐点生成的光声信号数据依次进行接收调理放大和采集保存;
步骤S5:在计算机上对采集的光声信号进行处理,直接在计算机上用灰度变化呈现光声信号的时辨变化和空间变化,得到扫描平面样品内部光学吸收体的二维灰度光声图像;
步骤S6:计算机利用吸收体上下边界的光声信号P1、P2的时间间隔Δt和声速V的乘积获得吸收体厚度l,利用上下边界的光声信号幅值之比P2/P1与吸收体系数α和厚度l的关系P2/P1=exp(αl),计算出吸收体的光学吸收系数α;
步骤S7:返回步骤S1,采用多光谱脉冲激光器输出新的一定波长短脉冲激光,获得不同波长下的光声图像及光学吸收系数α(λ)。
所述步骤S6中,所述计算机获得吸收体光学吸收系数所采用的技术原理是:
光声成像中利用纳秒级脉冲激光照射生物样品,样品中吸收体吸收光能量,发生热弹性膨胀,随后产生超声信号。由于光声信号直接与内部光吸收相关,在忽略热传导的情况下,光声压满足方程:
式中,p表示光声压,是空间位置,t表示时间,c是超声声速,β为介质的体元热膨胀系数,Cp是定容比热,是热源的时空分布,设为光吸收能量密度的空间分布,入射脉冲激光的时间分布函数为I(t),超声探测器的脉冲响应为h(t),则探测到的光声压表示为:
式中*表示卷积运算,式中I(t)*h(t)为整个探测系统的脉冲响应;
对于给定的光声探测系统,探测系统的脉冲响应是固定的,因此光声压与光吸收能量密度成正比,
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