[发明专利]一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法

权利要求书

1.一种测试阵列基板的栅极线的线路，其特征在于，包括：

测试垫；

第一开关单元，所述栅极线通过所述第一开关单元与所述测试垫连接，所述第一开关单元的一端与控制端连接；

通过向控制端施加电压来控制所述第一开关单元的导通和截止，在所述第一开关单元截止时，所述栅极线正常工作；在所述第一开关单元导通时，通过所述测试垫对所述栅极线的输出信号进行测试。

2.根据权利要求1所述的线路，其特征在于，所述第一开关单元包括第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的第一端与所述栅极线连接，所述第一薄膜晶体管的第二端与所述测试垫连接，所述第一薄膜晶体管的栅极与所述控制端连接，其中，所述第一端为所述第一薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，所述第二端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端。

3.根据权利要求2所述的线路，其特征在于，所述第一开关单元还包括第二开关单元，所述第一薄膜晶体管的栅极通过所述第二开关单元与所述控制端连接。

4.根据权利要求3所述的线路，其特征在于，所述第二开关单元是第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管的第三端与所述第一薄膜晶体管的栅极连接，所述第二薄膜晶体管的栅极和第四端相连并与所述控制端连接，其中，所述第三端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，所述第四端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端。

5.根据权利要求3所述的线路，其特征在于，所述第二开关单元包含多个级联的第二薄膜晶体管，其中，每个第二薄膜晶体管的栅极和第四端连接并依次与相邻的第二薄膜晶体管的第三端连接，位于首端的第二薄膜晶体管的第三端与所述第一薄膜晶体管的栅极连接，位于尾端的第二薄膜晶体管的栅极和第四端相连并与所述控制端连接，其中，所述第三端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，所述第四端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的线路，其特征在于，所述控制端通过电引线与阵列基板上的驱动电线中的第一电压输出端连接，在第一电压的作用下，所述第一开关单元截止。

7.一种测试阵列基板的栅极线的方法，其特征在于，使用权利要求1至6中任意一项所述的线路对所述栅极线进行测试，包括以下步骤：

向所述第一开关单元的控制端施加第一电压，所述第一开关单元截止，所述栅极线正常工作；

当所述阵列基板工作异常时，向所述第一开关单元的控制端施加第二电压，在第二电压的作用下，所述第一开关单元导通，通过所述测试垫对所述栅极线的输出信号进行测试。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，通过电引线将所述控制端与所述第一电压输出端连接，从而向所述控制端施加第一电压。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述第一电压输出端由阵列基板上的驱动电线提供。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，切断所述控制端与所述第一电压输出端之间的连接，向第一控制端接入外置的第二电压。