[发明专利]一种电路检测装置、电路检测方法及应用其的显示装置

说明书

本发明公开一种电路检测装置、电路检测方法及应用其的显示装置，涉及显示技术领域，用于解决显示装置因绑定线路烧毁而报废的问题。所述电路检测装置包括用于检测显示面板与印制电路板是否导通的检测电路，所述检测电路包括：位于印制电路板内用于输入检测电信号的第一冗余金属走线，位于显示面板内通过第一各向异性导电膜与第一冗余金属走线绑定的第二冗余金属走线，位于显示面板内与第二冗余金属走线电连接的第三冗余金属走线，以及位于印制电路板内通过第二各向异性导电膜与第三冗余金属走线绑定的第四冗余金属走线。本发明提供的电路检测装置、电路检测方法及应用其的显示装置用于显示装置中绑定线路的检测。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种电路检测装置、电路检测方法及应用其的显示装置。

背景技术

液晶显示装置中，将显示面板内的各金属走线与柔性印制电路板(FlexiblePrinted CircuitBoard，以下简称为FPC板)内的各金属走线一一对应连接起来，称之为绑定。

目前，在液晶显示装置中进行电路绑定时，参阅图1，首先在显示面板1内金属走线14未被绝缘膜层13覆盖且与印制电路板3内金属走线32相对的表面，涂覆各向异性导电膜(Anisotropic Conductive Film，以下简称为ACF)。然后，利用高温高压使ACF中各导电粒子2热压变形，变形后呈圆饼状的ACF中各导电粒子2以足够的接触面积与位于其两侧的金属走线接触，使位于ACF中各导电粒子2两侧的金属走线导通，从而实现绑定区域的各金属走线对应导通。之后，固化ACF中各导电粒子2，使位于绑定区的各金属走线保持其导通状态。

然而，位于绑定区的各金属走线的导通状态，依赖于ACF中的各导电粒子2的热压变形状态。若ACF中的导电粒子2存在热压变形异常，参阅图2，比如，导电粒子2的热压变形较小，未能同时与位于导电粒子2两侧的显示面板内金属走线14和印制电路板内金属走线32接触或其接触面积过小，则位于导电粒子2两侧的显示面板内金属走线14和印制电路板内金属走线32无法通过导电粒子2导通，这样就使得导电粒子2具备较大的接触电阻。一旦有瞬间大电流流经导电粒子2，就很容易烧毁导电粒子2，以及分别位于导电粒子2两侧的显示面板内金属走线14和印制电路板内金属走线32，甚至烧毁相应位于显示面板1内金属走线14对应区域的绝缘膜层13和其他功能膜层12，以及相应位于印制电路板3内金属走线32周边区域的基材31等，从而导致液晶显示装置报废。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电路检测装置、电路检测方法及应用其的显示装置，用于避免显示装置因绑定线路烧毁而报废。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

本发明的第一方面提供一种电路检测装置，所述电路检测装置包括用于检测第一绑定部与第二绑定部是否导通的检测电路，所述检测电路包括：

用于输入检测电信号的第一冗余金属走线；

与第一冗余金属走线绑定的第二冗余金属走线；

与第二冗余金属走线电连接的第三冗余金属走线；

以及与第三冗余金属走线绑定的第四冗余金属走线，用于在第一绑定部与第二绑定部导通时输出反馈电信号；其中，

第一冗余金属走线和第四冗余金属走线位于第二绑定部内，第二冗余金属走线和第三冗余金属走线位于第一绑定部内。

与现有技术相比，本发明提供的电路检测装置具有如下有益效果：

本发明提供的电路检测装置，利用第二绑定部内原有的第一冗余金属走线和第四冗余金属走线，第一绑定部内原有的与第一冗余金属走线对应绑定的第二冗余金属走线，以及第一绑定部内原有的与第四冗余金属走线对应绑定的第三冗余金属走线，并使第二冗余金属走线与第三冗余金属走线电连接，获得由第一冗余金属走线、第二冗余金属走线、第三冗余金属走线以及第四冗余金属走线依次连通构成的检测电路。