[发明专利]一种页岩地层有利层段的识别方法

权利要求书

1.一种页岩地层有利层段的识别方法，其特征在于，包括：

根据页岩地层的页岩的镜质体反射率Ro，对所述页岩地层的层段进行成熟度的划分；

根据所述页岩地层的页岩的总有机碳TOC含量，对所述页岩地层的层段进行有机质含量的划分；

根据所述页岩地层的页岩的第一无机矿物、第二无机矿物、第三无机矿物的含量，对所述页岩地层的层段进矿物岩性的划分；

根据对所述页岩地层进成熟度的划分、有机质含量的划分、矿物岩性的划分后的页岩地层的层段，确定所述页岩地层的有利层段；

其中，所述对所述页岩地层的层段进行成熟度的划分，包括：将所述页岩地层划分为未成熟页岩层段、成熟页岩层段、高成熟页岩层段、过成熟页岩层段、碳化页岩层段；

其中，所述对所述页岩地层的层段进行有机质含量的划分，包括：将所述页岩地层的层段划分为贫有机质层段、含有机质层段、富有机质层段；

其中，所述对所述页岩地层的层段进矿物岩性的划分，包括：将所述页岩地层的层段划分为硅质页岩层段、粘土质页岩层段、粘土质页岩层段、碳酸盐质页岩层段、混合页岩层段；

其中，根据对所述页岩地层进成熟度的划分、有机质含量的划分、矿物岩性的划分后的页岩地层的层段，确定所述页岩地层的有利层段，包括：

当所述页岩地层的层段同时为过成熟页岩层段、富有机质层段、硅质页岩层段时，确定所述页岩地层的层段为第一类有利层段；

当所述页岩地层的层段同时为过成熟页岩层段、富有机质层段、混合页岩层段时，确定所述页岩地层的层段为第二类有利层段；

当所述页岩地层的层段同时为成熟页岩层段、富有机质层段、硅质页岩层段时，确定所述页岩地层的层段为第三类有利层段；

当所述页岩地层的层段同时为成熟页岩层段、富有机质层段、混合页岩层段时，确定所述页岩地层的层段为第四类有利层段；

当所述页岩地层的层段同时为高成熟页岩层段、富有机质层段、硅质页岩层段时，确定所述页岩地层的层段为第五类有利层段；

当所述页岩地层的层段同时为高成熟页岩层段、富有机质层段、混合页岩层段时，确定所述页岩地层的层段为第六类有利层段。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据页岩地层的页岩的Ro，对所述页岩地层的层段进行成熟度的划分之前，还包括：

对所述页岩地层的页岩样品进行化学分析，确定所述页岩地层的页岩的Ro。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述页岩地层的页岩的TOC含量，对所述页岩地层的层段进行有机质含量的划分之前，还包括：

采用TOC测试仪，对所述所述页岩地层的页岩样品进行分析，确定所述页岩地层的页岩的TOC含量；或者，

对所述页岩地层的铀元素测井数据、密度测井数据、声波测井数据进行综合解释，确定所述页岩地层的页岩的TOC含量。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述页岩地层的页岩的第一无机矿物、第二无机矿物、第三无机矿物的含量，对所述页岩地层的层段进矿物岩性的划分之前，还包括：

对所述页岩地层的页岩进行X射线衍射矿物分析，确定所述页岩地层的页岩的第一无机矿物、第二无机矿物、第三无机矿物的含量；或者，

对所述页岩地层的声波测井数据、中子测井数据、密度测井数据进行综合解释，确定所述页岩地层的页岩的第一无机矿物、第二无机矿物、第三无机矿物的含量。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据页岩地层的页岩的Ro，对所述页岩地层的层段进行成熟度的划分，包括：

当所述页岩地层的页岩的Ro小于第一预设值时，确定所述页岩地层的层段为未成熟页岩层段；

当所述页岩地层的页岩的Ro大于第一预设值且小于第二预设值时，确定所述页岩地层的层段为成熟页岩层段；

当所述页岩地层的页岩的Ro大于第二预设值且小于第三预设值时，确定所述页岩地层的层段为高成熟页岩层段；

当所述页岩地层的页岩的Ro大于第三预设值且小于第四预设值时，确定所述页岩地层的层段为过成熟页岩层段；

当所述页岩地层的页岩的Ro大于第四预设值时，确定所述页岩地层的层段为碳化页岩层段。