[发明专利]旋转基线干涉仪定位系统的模拟源测试系统及其使用方法有效
申请号: | 201710091107.5 | 申请日: | 2017-02-20 |
公开(公告)号: | CN106772239B | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 梁广;孙思月;朱华;常凯;潘超;姜兴龙;马菁涛 | 申请(专利权)人: | 上海微小卫星工程中心 |
主分类号: | G01S5/06 | 分类号: | G01S5/06 |
代理公司: | 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 | 代理人: | 李阳 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 旋转 基线 干涉仪 定位 系统 模拟 测试 及其 使用方法 | ||
本发明提供旋转基线干涉仪定位系统的模拟源测试系统及其使用方法,本发明提供的旋转基线干涉仪定位系统的模拟源测试系统包括:辐射源信号生成模块、信号采样数据生成模块、大容量存储模块、射频模块B;所述辐射源信号生成模块根据设定的数据时长及信号特征生成空馈脉冲描述字数据,并输出到信号采样数据生成模块,生成空馈信号并发送到大容量存储模块;射频模块B读取所述空馈信号生成射频信号,并将所述射频信号通过天线空馈入定测定位系统的检测天线。通过本发明提供的方案模拟无线空馈定位测试信号。
技术领域
本发明涉及定位系统的模拟源测试系统,尤其涉及一种旋转基线干涉仪定位系统的模拟源测试系统及其使用方法。
背景技术
基于旋转基线干涉仪的定位系统通过单基线在旋转条件下测量不同转动角度收到的辐射源信号的相位差,结合定位系统的位置及姿态,实现全视场内辐射源的解模糊定位能力。
该旋转干涉仪定位体制的特殊性要求定位系统的性能及部分功能的测试需要在转台旋转条件下才可以进行。然而,在定位系统的研制过程中,大多数的测试环节不具备转动的条件,尤其考虑到转台的磨损,更无法长时间进行真实转动条件下定位性能的测试。因此,需要通过模拟基线旋转条件下干涉仪两个检测天线收到的空馈信号,以有线的方式将模拟信号馈入基线两端的射频通道,替代真实转台的转动,从而实现基线不转动的条件下,基于旋转基线干涉仪定位系统的定位性能测试。为了实现上述线馈测试,需要模拟基线旋转条件下接收到的空馈信号,该信号的模拟要与干涉仪实时接收到的基线转动角度、定位系统位置及姿态同步,目前尚未有解决针对上述旋转基线干涉仪定位系统的辐射源模拟系统。
发明内容
为了便于对旋转基线干涉仪定位系统的性能进行检测,本发明提供了一种旋转基线干涉仪定位系统的模拟源测试系统及其使用方法。
本发明提供旋转基线干涉仪定位系统的模拟源测试系统,包括:辐射源信号生成模块、信号采样数据生成模块、大容量存储模块、射频模块B;所述辐射源信号生成模块根据设定的数据时长及信号特征生成空馈脉冲描述字数据,并输出到信号采样数据生成模块,生成空馈信号并发送到大容量存储模块;射频模块B读取所述空馈信号生成射频信号,并将所述射频信号通过天线空馈入待测定位系统的检测天线。
进一步,还包括:插值模块、相位差生成模块以及脉冲描述字生成模块;所述插值模块针对输入的基线转角、位置和姿态数据,根据所述信号特征中的脉冲重复频率进行插值,获得每个脉冲到达待测定位系统的检测天线时,所对应的基线转角、定位系统的位置及姿态,并输出到相位差生成模块;相位差生成模块根据每个脉冲的频率、辐射源位置及其对应的基线转角、姿态及位置信息,计算出该脉冲所对应的两路线馈信号相位差;脉冲描述字生成模块将插值模块获得的每个脉冲所对应的基线转角、姿态及位置,以及相位差生成模块获得的该脉冲时刻的相位差,在空馈脉冲描述字的基础上,生成线馈脉冲描述字。
进一步,还包括:射频模块A,所述线馈脉冲描述字输出到信号采样数据生成模块,生成线馈信号A和线馈信号B;所述线馈信号A和线馈信号B存储于大容量存储模块;射频模块A读取线馈信号A,射频模块B读取线馈信号B,生成两路相参的射频信号,输入到待测定位系统干涉仪的两路射频输入端口。
进一步,所述空馈脉冲描述字数据包含:每个脉冲的载频、相对到达时间、脉内调制方式、脉宽、带宽以及该脉冲辐射源的位置。
进一步,还包括:场景预存模块、场景数据实时接收模块;所述场景预存模块接收外部输入的基线转角数据文件、轨道数据文件、姿态数据文件,对所述文件进行解析,并向插值模块输入基线转角、姿态和位置信息;所述场景数据实时接收模块与待测定位系统同时通过转角接口、轨道接口、姿态接口连接。
进一步,所述插值模块输入的基线转角、姿态和位置信息有两类来源:1)预存方式,测试时,需要待测定位系统采用相同预存的场景数据;2)实时方式,即测试中实时读取基线的转角、姿态及位置数据,并通过转速、位置外推实现短期上述数据的预测。
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