[发明专利]一种高速电路板智能测试装置在审
申请号: | 201710090063.4 | 申请日: | 2017-02-20 |
公开(公告)号: | CN106771984A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 刘一清;傅雨晴;张鼎;林顺豪 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙)31215 | 代理人: | 徐筱梅,张翔 |
地址: | 200241 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高速 电路板 智能 测试 装置 | ||
1.一种高速电路板智能测试装置,其特征在于:该装置包括PC机、测试电路、网络数据收发模块、网闸模块和服务器,PC机通过网线与测试电路、网络数据收发模块、网闸模块连接;测试电路与网络数据收发模块连接,网闸模块与服务器连接,隔离外网,保障服务器中的数据安全;其中:
所述测试电路包括电源模块、MCU模块、测频电路、两个千兆以太网接口,一个百兆以太网接口、探针和JTAG接口,电源模块与MCU模块、测频电路、两千兆以太网接口、百兆以太网接口和JTAG接口连接;MCU模块与测频电路、百兆以太网接口连接;电源模块、MCU模块、测频电路、千兆以太网接口和JTAG接口均接有数个探针。
2.根据权利要求1所述的高速电路板智能测试装置,其特征在于:所述测频电路包括数个电压跟随器及一个FPGA芯片,探针连接在电压跟随器的输入端,电压跟随器的输出端分别接FPGA芯片的数个IO引脚;探针获取的频率信号通过电压跟随器进行阻抗匹配和脉冲整形。
3.根据权利要求1所述的高速电路板智能测试装置,其特征在于:所述MUC模块的核心芯片为基于ARM-M4内核的K60,探针连接在K60芯片具有ADC采样功能的IO引脚上,测试数路电压信号。
4.根据权利要求1所述的高速电路板智能测试装置,其特征在于:所述千兆以太网接口和JTAG接口的每个信号线上都接有探针。
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