[发明专利]一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置

说明书

技术领域

本发明属于芯片测试技术领域，特别是涉及一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置。

背景技术

单板底层软件系统的可靠性是整机可靠性的重要基础，特别是在存储领域中，可靠性就是存储系统的生命，所以单板底层软件系统的可靠性就显得尤为重要。对嵌入式控制芯片的全功能覆盖测试是针对单板底层软件系统可靠性测试的一项非常有效的手段，但是嵌入式控制芯片的寄存器繁杂而且规律性小，在人工排查过程中费时费力。具体而言，在嵌入式控制芯片的底层软件的编写中，许多寄存器特别是许多状态寄存器在检查中需要花费大量的时间，而且容易错查、漏查。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置，能够提高测试效率，降低相关测试对人力的要求，并且避免错查和漏查问题的发生。

本发明提供的一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法，包括：

将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片；

利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行，从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据；

将读取的数据与脚本中的预设数据对比；

当所述读取的数据与所述预设数据相同时，则判定该寄存器测试通过。

优选的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中，

所述当所述读取的数据与所述预设数据相同时，则判定该寄存器测试通过之后，还包括：

将所述预设数据写入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；

从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取出数据并与所述预设数据对比；

当所述读取的数据与所述预设数据相同时，则判定该寄存器测试通过。

优选的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中，所述将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片为：

将Tera Term串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片。

优选的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中，所述将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片为：

将串口自动化工具通过CPLD、FPGA或ARM连接至主控芯片。

优选的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法中，所述嵌入式控制芯片通过I2C或SGPIO与所述主控芯片连接。

本发明提供的一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置，包括串口自动化工具，所述串口自动化工具通过嵌入式控制芯片与主控芯片连接；

所述串口自动化工具用于自动运行所述主控芯片的命令行，从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据，并将读取的数据与脚本中的预设数据对比，当所述读取的数据与所述预设数据相同时，则判定该寄存器测试通过。

优选的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置中，

所述串口自动化工具还用于将所述预设数据写入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取出数据并与所述预设数据对比；当所述读取的数据与所述预设数据相同时，则判定该寄存器测试通过。

优选的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置中，所述串口自动化工具为Tera Term串口自动化工具。

优选的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置中，所述嵌入式控制芯片为CPLD、FPGA或ARM。

优选的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试装置中，所述嵌入式控制芯片通过I2C或SGPIO与所述主控芯片连接。

通过上述描述可知，本发明提供的上述嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法和装置，由于该方法包括：将串口自动化工具通过嵌入式控制芯片连接至主控芯片；利用所述串口自动化工具自动运行所述主控芯片的命令行，从所述嵌入式控制芯片的寄存器中读取数据；将读取的数据与脚本中的预设数据对比；当所述读取的数据与所述预设数据相同时，则判定该寄存器测试通过，因此能够提高测试效率，降低相关测试对人力的要求，并且避免错查和漏查问题的发生。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的第一种嵌入式控制芯片全功能覆盖的自动测试方法的示意图；