[发明专利]一种玻璃热收缩测试标记的制作方法有效
申请号: | 201710088280.X | 申请日: | 2017-02-17 |
公开(公告)号: | CN106830637B | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 张广涛;李志勇;田鹏;李俊锋;闫冬成;王丽红;郑权 | 申请(专利权)人: | 东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司 |
主分类号: | C03B19/00 | 分类号: | C03B19/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 严政;刘依云 |
地址: | 100075 北京市丰台区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 玻璃 收缩 测试 标记 制作方法 | ||
本发明涉及玻璃制造技术领域,公开了一种玻璃热收缩测试标记的制作方法,该方法包括:在玻璃成型过程中,在玻璃粘度为25000‑40000p,优选为28000‑38000p的区域,采用针刺的方式或喷气的方式在玻璃上形成凸起或凹陷的标记。该方法可以划出粗细及深度适当的标记线,采用的装置简单,制作成本较低,并且具有较好的重复性。
技术领域
本发明涉及玻璃制造技术领域,具体地,涉及一种玻璃热收缩测试标记的制作方法。
背景技术
随着光电行业的快速发展,对各种显示器件的需求正在不断增长,比如有源矩阵液晶显示(AMLCD)、有机发光二极管(OLED)以及应用低温多晶硅技术的有源矩阵液晶显示(LTPS TFT-LCD)器件,这些显示器件都基于使用薄膜半导体材料生产薄膜晶体管(TFT)技术。
主流的硅基TFT可分为非晶硅(a-Si)TFT、多晶硅(p-Si)TFT和单晶硅(SCS)TFT,其中非晶硅(a-Si)TFT为现在主流TFT-LCD应用的技术,其生产制程可以在300~450℃温度下完成。对于像素密度不超过300ppi的显示产品,非晶硅(a-Si)TFT游刃有余;但是当像素密度超过400ppi后,就需要电子迁移率更高的多晶硅技术支撑。LTPS(p-Si)TFT在制程过程中需要在450~600℃温度下多次处理,表面必须在多次高温处理过程中不能发生显著的变形,对表面玻璃热稳定性和尺寸稳定性提出更高的要求,也即表面必须具有足够小的“热收缩”,一般的,要求热收缩率不超过10ppm、5ppm甚至更低。
因此,在研发或生产过程中,需要测试或监控玻璃收缩率,目前常使用面板制造商镀膜的方式进行热收缩测试,或者,在玻璃表面上制作耐受高温的特征标记,然后通过光学或其他方式测试玻璃表面在高温热处理前后热收缩率。但是,前者的投资过于高昂且浪费资源,并非最优选择。然而,后者在标记制作方面,仍然存在较多问题,现有技术多使用激光打标的标记方式,比如皮秒激光器或飞秒激光器,主要缺陷在于:激光器功率过大时划线过粗且崩边严重,影响微观尺寸测试的精度;激光器功率过小时难以划刻出足够清晰的痕迹,影响微观尺寸测试的精度;另一方面,激光器的成本依然过高。
发明内容
本发明的目的是提供一种玻璃热收缩测试标记的制作方法,该方法可以解决现有技术中存在的制作成本较高,划线过粗且崩边严重、划线过细标记不够清晰的问题,可以制作出粗细及深度适当的标记线,采用的装置简单,制作成本较低,并且具有较好的重复性。
为了实现上述目的,本发明提供了一种玻璃热收缩测试标记的制作方法,其中,该方法包括:在玻璃成型过程中,在玻璃粘度为25000-40000p,优选为28000-38000p的区域,采用针刺的方式或喷气的方式在玻璃上形成凸起或凹陷的标记。
进一步地,所述针刺的方式所采用的装置包括导轨、设置在导轨上的安装平台、固定在安装平台上的杆状物以及安装在杆状物端部的尖状物,所述安装平台能够沿着所述导轨滑动;在形成标记的过程中,所述尖状物与玻璃表面接触并发生相对移动。
进一步地,所述尖状物的直径为30-150μm;优选地,所述尖状物的材质为铂金或铂铑合金;优选地,所述尖状物是可伸缩的。
进一步地,在形成标记的过程中,针刺的压力为0.01-10N,优选为1-7N;优选地,所述针刺的方式所采用的装置还包括压力传感器和控制终端,通过所述压力传感器反馈所述尖状物针刺的压力,并通过所述控制终端调整所述尖状物针刺的压力。
进一步地,所述喷气的方式所采用的装置包括导轨、设置在导轨上的安装平台、固定在安装平台上的杆状物以及安装在杆状物端部的空心管,所述安装平台能够沿着所述导轨滑动;在形成标记的过程中,通过所述空心管向玻璃表面喷吹气体。
进一步地,所述杆状物为空心结构,空心管的头部孔径为30-150μm;优选地,所述空心管的材质为铂金或铂铑合金。
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