[发明专利]一种测试装置及显示面板在审

专利信息
申请号: 201710084161.7 申请日: 2017-02-16
公开(公告)号: CN106782253A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 王国磊 申请(专利权)人: 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 代理人: 任嘉文
地址: 230011 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 装置 显示 面板
【说明书】:

技术领域

本申请涉及显示技术领域,尤其涉及一种测试装置及显示面板。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)具有重量轻,厚度薄以及低功耗等优点,广泛应用于电视、手机、显示器等电子产品中。但在LCD工艺中,存在静电问题。现有常规产品的测试(Test)部分的结构如图1所示,主要包括控制开关线1、控制开关(Switch开关)2,以及测试控制信号的信号输出端11与信号输入端12,信号输出端通过连线4与信号线3(Gate or Data)相连,信号线3与连线4通过过孔5连接,Switch开关2为薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT),TFT的栅极与控制开关线相连,TFT的另外两极分别与信号输出端和信号输入端相连。其中,Switch开关与控制开关线连接位置6为静电常发位置,当该位置有静电释放(ElectroStatic discharge,ESD)发生时,信号线与控制开关线会发生短路,由于控制开关线最终会连接到一低电平,所以会导致信号线最终也会一直保持一低电平,引起显示不良。

综上所述,现有技术中由于Switch开关与控制开关线连接位置的静电释放,导致信号线与控制开关线发生短路,最终引起显示不良,影响显示效果。

发明内容

本申请实施例提供了一种测试装置及显示面板,用以避免信号线与控制开关线发生短路,从而避免引起显示不良,提高了显示效果。

本申请实施例提供的一种测试装置,包括控制开关线及设置于该控制开关线上的至少一个控制开关,该测试装置还包括测试控制信号的信号输入端与信号输出端,所述控制开关线驱动所述控制开关以控制所述信号输入端与信号输出端通断,与所述控制开关线相邻设置导线,所述控制开关线上一侧设置有放电尖端,该放电尖端指向该导线。

本申请实施例提供的一种测试装置,包括控制开关线及设置于该控制开关线上的至少一个控制开关,该测试装置还包括测试控制信号的信号输入端与信号输出端,所述控制开关在所述控制开关线的控制下,使得所述信号输入端和信号输出端导通或断开,所述控制开关线上设置有放电尖端,该装置还包括:与所述放电尖端相对并且与所述控制开关线相邻设置的导线,用于接收所述控制开关线上通过所述放电尖端释放的静电。

本申请实施例提供的一种测试装置,通过在所述控制开关线上设置有放电尖端,以及设置与所述放电尖端相对并且与所述控制开关线相邻设置的导线,当所述控制开关与所述控制开关线连接位置存在静电时,所述控制开关线可以通过所述放电尖端将静电释放到所述导线上,所述导线接收了所述控制开关线上通过所述放电尖端释放的静电,从而避免了静电导致的控制开关线与信号线发生短路而引起的显示不良,提高了显示效果。

较佳地,所述控制开关线上设置有多个放电尖端,相邻放电尖端之间的距离大于或等于5微米。

较佳地,所述导线与所述放电尖端之间的距离小于或等于10微米。

较佳地,所述导线接地。

较佳地,所述控制开关为薄膜晶体管,所述薄膜晶体管的栅极与所述控制开关线相连,所述薄膜晶体管的另外两极中的一极与所述信号输入端相连,另一极与所述信号输出端相连。

较佳地,所述导线设置于所述信号输入端一侧或者设置于所述信号输出端一侧,或者在所述信号输入端一侧以及所述信号输出端一侧均设置有所述导线。

本申请实施例提供了一种显示面板,包括信号线,还包括本申请实施例提供的上述测试装置,该测试装置的信号输出端与所述信号线电连接,该测试装置的信号输出端向所述信号线输出测试控制信号。

较佳地,所述控制开关线与所述信号线相互平行设置。

较佳地,所述信号线栅极驱动线和/或数据信号驱动线。

本申请实施例提供了一种显示器,包括本申请实施例提供的显示面板。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中显示面板的测试部分的结构示意图;

图2为本申请实施例提供的一种测试装置结构示意图;

图3为本申请实施例,控制开关与控制开关线、信号输入端及信号输出端连接的等效电路图;

图4为本申请实施例提供的第二种测试装置结构示意图;

图5为本申请实施例提供的第三种测试装置结构示意图;

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