[发明专利]包括温度传感器的半导体装置及其制造方法和电路有效
申请号: | 201710073726.1 | 申请日: | 2017-02-10 |
公开(公告)号: | CN107086247B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 安德烈亚斯·迈泽尔;蒂尔·施勒塞尔 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L23/34;H01L21/336 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李春晖;陈炜 |
地址: | 德国瑙伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包括 温度传感器 半导体 装置 及其 制造 方法 电路 | ||
1.一种半导体装置(1),包括具有第一主表面(110)的半导体衬底(100)中的晶体管(10),所述晶体管(10)包括:
源极区(201);
源极接触件,其电连接到所述源极区(201),所述源极接触件包括第一源极接触部分(202)和第二源极接触部分(130);以及
在与本体区(220)相邻的所述第一主表面中的栅极沟槽(212)中的栅极(210),所述栅极(210)被配置成控制所述本体区(220)中的沟道的导电性,
所述本体区(220)和漂移区(260)沿着平行于所述第一主表面的第一方向而被布置在所述源极区(201)与漏极区(205)之间,
所述第二源极接触部分(130)被布置在所述半导体衬底(100)的第二主表面(120)处,
所述第一源极接触部分(202)包括与所述源极区(201)直接接触的源极导电材料(115),所述第一源极接触部分(202)还包括所述半导体衬底(100)的在所述源极导电材料(115)与所述第二源极接触部分(130)之间的部分,
所述半导体装置(1)还包括在所述半导体衬底(100)中的温度传感器(30)。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,所述半导体衬底(100)包括具有第一导电类型的第一区域(106)和具有第二导电类型的第一部分(104),所述第一部分(104)的一部分是所述第一源极接触部分(202)的组成部分,并且所述温度传感器(30)包括与所述第一区域(106)接触的第一接触件(301)以及与所述第一部分(104)接触的第二接触件(302)。
3.根据权利要求2所述的半导体装置(1),其中,所述源极导电材料(115)被布置在所述第一主表面(110)中的源极接触槽(112)中,所述源极接触槽延伸到所述第一部分(104),并且所述第二接触件(302)被布置在所述第一主表面(110)中的第二传感器接触槽(303)中并且延伸到所述第一部分(104)。
4.根据权利要求3所述的半导体装置(1),其中,所述源极接触槽(112)和所述第二传感器接触槽(303)延伸到同一深度。
5.根据权利要求3或4所述的半导体装置,其中,所述第二传感器接触槽(303)不延伸到所述半导体衬底(100)的所述第二主表面(120)。
6.根据权利要求2所述的半导体装置(1),其中,所述第一接触件(301)被布置在所述第一主表面(110)中的第一传感器接触槽(304)中。
7.根据权利要求2所述的半导体装置(1),其中,所述温度传感器(30)还包括与所述第一区域(106)接触的、具有所述第二导电类型的发射极区(305)。
8.根据权利要求7所述的半导体装置(1),其中,所述第一接触件(301)和所述第二接触件(302)被连接到公共端子(271,294,313)。
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