[发明专利]一种基于土体图像计算土体裂隙率的方法有效

专利信息
申请号: 201710071556.3 申请日: 2017-02-09
公开(公告)号: CN106846315B 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 曹雪山;唐中军 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 211100 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 图像 计算 裂隙 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于土体图像计算土体裂隙率的方法,包括以下步骤:步骤S1,对原始彩色图像调整阈值,将其转换为黑白图;步骤S2,将黑白图像转化为二值图;步骤S3,计算圆形土体图像中黑白像素的个数,黑色像素个数与黑白像素之和的比值即为裂隙率。本发明方法先对原始彩色图像调整阈值转换为黑白图;然后计算圆形土体黑白图像中黑白像素的个数,即可获得裂隙率,方法过程简单,免去了二值化处理过程。

技术领域

本发明涉及土木工程技术领域,具体涉及一种基于土体图像计算土体裂隙率的方法。

背景技术

膨胀土体的裂隙性对其工程性质影响极大。一方面,裂隙的存在破坏土体的整体性,使其强度大为削弱;另一方面,裂隙也加剧了大气对土体的影响,使水分的入侵与土体的风干更为剧烈。因此,研究裂隙的演化规律及其对膨胀土体工程性质的影响,将有助于揭示膨胀土边坡失稳破坏机制,同时,也为制订膨胀土边坡处理措施奠定基础。

一直以来,关于膨胀土裂隙发展的试验中,有各种各样的方式去反映裂隙的发展程度,其中有一种方式为图像法,即通过对土样进行拍照,之后通过一系列后处理来统计裂隙的发育程度。但现有技术中从图像中提取裂隙值均需要对图像进行二值化处理,并且处理步骤较多。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中的不足,提供了一种基于土体图像计算土体裂隙率的方法,先对原始彩色图像调整阈值转换为黑白图;然后计算圆形土体黑白图像中黑白像素的个数,即可获得裂隙率,方法过程简单,免去了二值化处理过程。

为解决上述技术问题,本发明提供了一种基于土体图像计算土体裂隙率的方法,其特征是,包括以下步骤:

步骤S1,对原始彩色图像调整阈值,将其转换为黑白图;

步骤S2,将黑白图像转化为二值图;

步骤S3,计算圆形土体图像中黑白像素的个数,黑色像素个数与黑白像素之和的比值即为裂隙率。

进一步的,在photoshop中对原始彩色图像调整阈值。

进一步的,黑白图保存为png格式。

进一步的,在matlab中将黑白图像转化为单通道图,即为二值图。

进一步的,计算圆形土体图像中黑白像素个数的具体过程为:

步骤S31,根据黑白像素值确定包含裂隙的最大矩形图,该矩形内最大内切圆即为对应的圆形土样图像;

步骤S32,计算出矩形图中黑白像素个数,进而计算获得圆形土体图像中黑白像素个数。

进一步的,确定矩形图的具体过程为:首先对二值图中像素值进行反色处理;然后对图像中黑白像素值进行行列求和,根据列的和值确定矩形左右边界,根据行的和值确定矩形上下边界,截取图像中有值的部分即为矩形图。

进一步的,提取矩形图像中有值部分,计算有值像素个数,即为反色前土样图像中白色像素个数。

进一步的,对矩形图像再次反色,提取有值部分,即为包含矩形边界四个角的黑色像素,并计算黑色像素个数,根据圆形土体图像与矩形图面积比,计算出土样图像中黑色像素个数。

与现有技术相比,本发明所达到的有益效果是:1)图像只需调整阈值即可进行处理,免去了手动进行二值化这一过程。2)拍摄图像为矩形,土体图像为圆形,该方法免去了处理前需要把矩形图像裁剪为圆形的麻烦,简化步骤。3)统计结果精确明了,对问题的反映更为真实具体。

附图说明

图1是本发明方法的流程示意图;

图2是实施例中原始土体图像;

图3是实施例中调整阈值后的黑白图。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河海大学,未经河海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710071556.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top