[发明专利]一种氟化钙晶体表面清洗方法有效
申请号: | 201710070812.7 | 申请日: | 2017-02-09 |
公开(公告)号: | CN106944884B | 公开(公告)日: | 2018-04-13 |
发明(设计)人: | 马彬;王可;张莉;程鑫彬;王占山;江浩;苏静;崔勇 | 申请(专利权)人: | 同济大学;上海天粹自动化设备有限公司 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00;B08B3/12 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司31225 | 代理人: | 翁惠瑜 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氟化钙 晶体 表面 清洗 方法 | ||
1.一种氟化钙晶体表面清洗方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)利用CeO2抛光颗粒在沥青盘上对氟化钙晶体进行抛光,抛光时,转速不超过15转/分钟,表面压强不超过200千帕,氟化钙晶体表面粗糙度<0.5nm时结束抛光;
2)抛光结束后的15分钟内,对氟化钙晶体进行多频超声-兆声复合频率清洗;
3)利用磁流变技术对氟化钙晶体进行磁流变刻蚀;
4)对刻蚀后的氟化钙晶体进行多频超声-兆声复合频率清洗;
5)利用SiO2胶体在聚氨酯抛光垫上对氟化钙晶体进行低速低压力的二次抛光,氟化钙晶体表面粗糙度<0.2nm时结束抛光,所述SiO2胶体的粒径小于CeO2抛光颗粒的粒径;
6)对二次抛光后的氟化钙晶体进行多频超声-兆声复合频率清洗。
2.根据权利要求1所述的氟化钙晶体表面清洗方法,其特征在于,所述CeO2抛光颗粒为经三次水选过滤的CeO2颗粒,且CeO2颗粒的粒径为0.3-0.5μm。
3.根据权利要求1所述的氟化钙晶体表面清洗方法,其特征在于,所述多频超声-兆声复合频率清洗具体为:
利用1:1混合的无水酒精和纯度大于98%的丙酮溶液在30℃下清洗3-5分钟,同时加载超声波和兆声波的多频循环振动。
4.根据权利要求1或3所述的氟化钙晶体表面清洗方法,其特征在于,所述多频超声-兆声复合频率清洗中,超声波频率为40/80/140/220/270kHz的5频复合频率超声波,兆声波频率为0.47/1.0/1.3MHz的3频复合频率兆声波,超声波各个频率的持续时间为15秒,兆声波各个频率的持续时间为20秒,各频率在低功率下交替循环。
5.根据权利要求1所述的氟化钙晶体表面清洗方法,其特征在于,所述磁流变刻蚀的刻蚀时间为3-20分钟,刻蚀深度为1-3μm。
6.根据权利要求1所述的氟化钙晶体表面清洗方法,其特征在于,所述SiO2胶体的粒径为10-50nm。
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