[发明专利]存储器诊断系统有效

专利信息
申请号: 201710066100.8 申请日: 2017-02-06
公开(公告)号: CN107134295B 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 金经纶;朴起台 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 闫红玉;张川绪
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 存储器 诊断 系统
【权利要求书】:

1.一种存储器诊断系统,包括:

存储器装置,包括:

存储器模块,被配置为响应于参数控制信号调整操作参数,

存储器控制器,被配置为响应于反馈信号生成参数控制信号,和

存储器状态监视器,被配置为监视存储器模块,以生成包括关于存储器模块的状态的信息的信息信号;

服务器,被配置为响应于信息信号生成反馈信号,

其中,当信息信号指示编程命令被以低于低阈值频率的频率应用于存储器模块时,服务器确定存储器模块的使用模式是低频率编程模式,并生成用于与低频率编程模式对应的反馈信号,

响应于所述反馈信号,存储器控制器增大用于对存储器模块中的数据进行编程的编程电压,

或者,

其中,当信息信号指示编程命令被以高于高阈值频率的频率应用于存储器模块时,服务器确定存储器模块的使用模式是高频率编程模式并生成用于与高频率编程模式对应的反馈信号,

响应于所述反馈信号,存储器控制器减小用于对存储器模块中的数据进行编程的编程电压,

或者,

其中,当信息信号指示读取操作中的误码率超过参考值并且读取操作失败时,存储器装置忽略第一防御代码并执行第二防御代码。

2.如权利要求1所述的存储器诊断系统,其中,关于存储器模块的状态的信息包括存储器模块的温度、存储器模块的湿度和应用于存储器模块的编程、擦除或读取命令的信息中的至少一个。

3.如权利要求1所述的存储器诊断系统,其中,关于存储器模块的状态的信息包括当前编程和擦除循环次数、读取操作中的误码率、编程时间和防御代码的执行次数中的至少一个。

4.如权利要求1所述的存储器诊断系统,其中,参数控制信号包括直流(DC)特征控制信号和交流(AC)特征控制信号。

5.如权利要求1所述的存储器诊断系统,其中,服务器包括:

信息收集器,被配置为响应于信息信号收集关于存储器模块的状态的信息;

中央处理器,被配置为响应于收集的信息生成反馈信号。

6.如权利要求1所述的存储器诊断系统,其中,收集的信息被用作用于设计另一存储器模块的测试信息。

7.如权利要求1所述的存储器诊断系统,其中,所述信息在存储器装置被用户使用时被收集。

8.如权利要求1所述的存储器诊断系统,还包括:

通信通道,连接存储器装置和服务器,

其中,存储器状态监视器通过通信通道将信息信号传输到服务器,服务器通过通信通道将反馈信号传输到存储器装置。

9.如权利要求8所述的存储器诊断系统,其中,通信通道是互联网或云网络。

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