[发明专利]基于双平行马赫增德尔调制器测量多普勒频移的方法有效

专利信息
申请号: 201710065448.5 申请日: 2017-01-24
公开(公告)号: CN106814247B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 陈玮;文爱军;李晓艳 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 平行 马赫 增德尔 调制器 测量 多普勒频移 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于双平行马赫增德尔调制器DPMZM测量多普勒频移DFS的方法,包括激光二极管LD、DPMZM、掺铒光纤放大器EDFA、密集型波分复用器DWDM、光电探测器PD、电谱仪、示波器,其特征在于:电光调制器只采用一个DPMZM,回波信号和发送信号分别驱动调制器的上下臂,上下臂工作在最小点产生携带回波信号和本振信号的抑制载波双边带信号,DPMZM的主调制在上下臂引入45度相位差用于DFS正负的判定;DWDM将调制器输出的光信号的上下边带分别滤出并送入上下路的PD进行拍频;拍频得到的电信号送入电谱仪测量DFS的大小,并送入示波器比较两路信号的相位差判定DFS的正负;

所述DPMZM是由Y型分光器、两个马赫增德尔调制器MZMa和MZMb并联集成在一个主调制器MZMc上,射频口采用推挽模式加载射频信号;

所述DWDM内部是中心频率相隔几十吉赫兹的平坦光带通滤波器组。

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