[发明专利]一种轨道偏移测量基准设定方法、装置及系统有效
申请号: | 201710064846.5 | 申请日: | 2017-02-05 |
公开(公告)号: | CN108398106B | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 钱浙滨 | 申请(专利权)人: | 钱浙滨 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30;B61K9/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200092 上海市杨*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 轨道 偏移 测量 基准 设定 方法 装置 系统 | ||
1.一种轨道偏移测量基准设定方法,包括:
在第一位置处设定轨道偏移测量用第一基准点,在第二位置处设定轨道偏移测量用第二基准点;所述第一基准点和第二基准点分别与行驶轨保持确定的位置对应关系,和/或使用轨道面控制点确定所述第一基准点和第二基准点的位置坐标;
通过所述第一基准点向所述第二基准点发送第一激光束,该第一激光束用作轨道偏移测量的第一基准线,该第一激光束被位于其光路上的光耦合器分离出部分光能量用于轨道偏移测量。
2.如权利要求1所述的方法,其中,
所述第一基准点和第二基准点分别与行驶轨保持确定的位置对应关系,包括:
以行驶轨上的特定点、线和面中的至少一种作为参照,确定第一基准点和第二基准点的位置;
所述使用轨道面控制点确定第一基准点和第二基准点的位置坐标,包括:
通过测量第一基准点和第二基准点相对于轨道面控制点CPIII的距离和方位设定第一基准点和第二基准点的位置;或
使用轨道面控制点CPIII的位置坐标对第一基准点和第二基准点进行基于到达时间的位置估计或基于到达时间差的位置估计,将位置估计得到坐标作为第一基准点和第二基准点的位置坐标。
3.如权利要求1所述的方法,其中,
所述通过所述第一基准点向所述第二基准点发送第一激光束,包括如下至少一种步骤:
搜索步骤,在方位角范围A和俯仰角范围B内调整第一激光束的照射方向, 并接收第一激光束被第二基准点接收到的指示信息,当接收到第一激光束被第二基准点接收到的指示信息后,执行跟踪步骤,其中,所述方位角范围A和俯仰角范围B构成的立体角度内包含第二基准点所在的位置方向;
跟踪步骤,接收第一激光束在第二基准点处的照射点误差指示信息,根据照射点误差指示信息包含的角度偏移方向和/或偏移量调整第一激光束的照射方向,使第一激光束在第二基准点处的照射点误差在预订的照射点误差门限之内;
其中,所述接收第一激光束被第二基准点接收到的指示信息,包括接收第一激光束被第二基准点反射的光信号或接收无线电信道发送的第一激光束被第二基准点接收到的指示信息;
所述接收第一激光束在第二基准点处的照射点误差指示信息,包括接收第一激光束被第二基准点反射的光信号携带的第一激光束在第二基准点处的照射点的角度偏移方向和/或偏移量调整信息;或接收无线电信道发送的第一激光束在第二基准点处的照射点的角度偏移方向和/或偏移量调整的指示信息。
4.如权利要求3所述的方法,其中,
所述搜索步骤还包括:
在方位角范围A和俯仰角范围B内调整第一激光束的照射方向之前,使用第一基准点和第二基准点的位置坐标确定第二基准点相对于第一基准点的方向D,使用方向D确定方位角范围A和俯仰角范围B使之包含方向D;
其中,所述第一基准点和第二基准点的位置坐标包括使用卫星导航定位终端获取的坐标或使用轨道面控制点确定的坐标。
5.如权利要求1所述的方法,其中,
所述第一激光束用作轨道偏移测量的第一基准线,包括:
将第一激光束的视轴、第一激光束的中心线和第一激光束的质心线中的任一种用作轨道偏移测量的第一基准线;
所述第一激光束被位于其光路上的光耦合器分离出部分光能量用于轨道偏移测量,包括:
第一激光束由其在光耦合器表面的散射分离出部分光能量,该散射所形成的散射光斑的质心位置被作为第一激光束的位置,该散射光斑的质心位置与行驶轨偏移测量参照点间的相对位置关系被用于估计轨道的偏移;或
第一激光束由其穿过的光耦合器的分路作用分离出测量子波束,子波束在光电成像传感器上所成像的质心位置与第一激光束的位置保持确定的对应关系,该子波束在光电成像传感器上所成像的质心位置与行驶轨偏移测量参照点间的相对位置关系被用于估计轨道的偏移;
所述光耦合器包括透镜、光分路镜、透光膜和透光片中的至少一种;
所述行驶轨偏移测量参照点与行驶轨的真实位置保持确定的位置对应关系。
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