[发明专利]半导体设备及其操作方法有效

专利信息
申请号: 201710063623.7 申请日: 2017-02-03
公开(公告)号: CN107085561B 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 成洛熙;李相伦;赵成旻;赵胤校;姜东秀;金秉珍;尹栽根 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F15/177 分类号: G06F15/177;G06F15/78
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 钱大勇
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体设备 及其 操作方法
【说明书】:

一种半导体设备的操作方法包括监视在主设备和从设备之间所传送的多个请求分组和多个响应分组。从请求分组当中检测与预定义的识别(ID)信息匹配的目标请求分组。对延迟计数器的操作进行初始化。该操作用于测量包括目标请求分组和作为响应分组中与预定义的ID信息匹配的一个的目标响应分组的通信交换(事务)的延迟。从响应分组当中检测目标响应分组。终止延迟计数器的操作。从延迟计数器获取通信交换的延迟值。

本申请要求于2016年2月4日向韩国知识产权局提交的第10-2016-0014250号韩国专利申请的优先权,该韩国专利申请的公开内容通过引用整体合并于此。

背景技术

本公开涉及一种半导体设备及其操作方法。

技术领域

片上系统(SoC)使得能够使用高性能片上互联(OCI)来在各种知识产权(IP)块之间进行数据传输。片上互联可以例如在任意的主设备和从设备之间传送多个通信交换(事务)。可以针对例如执行调试(debug)、服务质量(QoS)控制或者追踪由用户定义的特定事件的发生的目的,通过监视设备来监视在主设备和从设备之间所形成的信道。

发明内容

本公开的示例实施例提供一种半导体设备的操作方法,用于高效地测量在片上系统(SoC)的主设备和从设备之间所形成的信道中的延迟。

本公开的示例实施例还提供一种半导体设备,用于高效地测量在片上系统的主设备和从设备之间所形成的信道中的延迟。

然而,本公开的示例实施例不限于在本文阐述的那些。通过参考以下给出的本公开的详细描述,本公开的以上和其他示例实施例对本公开所属领域的普通技术人员将变得更加明显。

根据本公开的示例实施例,一种半导体设备的操作方法包括:监视在主设备和从设备之间所传送的多个请求分组和(例如,响应于请求分组而发送的)多个响应分组。从请求分组当中检测与预定义的识别(ID)信息匹配的目标请求分组。对延迟计数器的操作进行初始化。延迟是在原因和结果之间——诸如在作为原因发送的请求分组和作为结果的响应于该请求分组的响应分组之间——的时间间隔。延迟计数器用于测量包括目标请求分组和作为响应分组中与预定义的ID信息匹配的一个的目标响应分组的通信交换(事务)的延迟。从响应分组当中检测目标响应分组。终止延迟计数器的操作。从延迟计数器获取通信交换的延迟值。

根据本公开的另一个示例实施例,一种半导体设备的操作方法包括:监视在片上系统(SoC)中提供的第一知识产权(IP)块和第二知识产权(IP)块之间的多个通信交换(事务)。从SoC外部接收预定义的第一ID信息和预定义的第二ID信息。通过使用延迟计数器来测量作为通信交换中与第一ID信息匹配的一个的第一事务的延迟。通过使用延迟计数器来测量作为通信交换中与第二ID信息匹配的一个的第二事务的延迟。基于所测量的第一事务的延迟和所测量的第二事务的延迟来计算平均延迟和峰值延迟。

根据本公开的又一个示例实施例,一种半导体设备包括:过滤模块,从在主设备和从设备之间所传送的多个请求分组当中检测与预定义的ID信息匹配的目标请求分组。配置模块接收预定义的ID信息并且向过滤模块提供预定义的ID信息。延迟计数器测量包括目标请求分组和作为响应分组中与预定义的ID信息匹配的一个的目标响应分组的通信交换(事务)的延迟。控制模块控制延迟计数器的操作并且从响应分组当中检测目标响应分组。

根据以下详细描述、附图和权利要求,其他特征和方面将是明显的。

附图说明

通过参考附图详细地描述本公开的示例性实施例,本公开的以上及其他方面和特征将变得更加明显,在附图中:

图1是根据本公开的示例实施例的半导体设备的示意性框图。

图2是用于解释如何测量在根据图1的示例实施例的半导体设备的主设备和从设备之间所形成的信道中的延迟的定时图。

图3是根据图1的示例实施例的半导体设备的监视设备的示意性框图。

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