[发明专利]电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置

权利要求书

1.一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，包括：

获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；

获取所述作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；

基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；

对数据进行预处理，以所述1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以所述电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；

基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；

利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个电阻器件的抗辐照性能，对同批其他电阻器器件进行筛选。

2.根据权利要求1所述的一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，所述获取随机子样电阻器的1/f噪声电压功率谱幅值包括：

设置电阻器两端的偏置电流；

在电阻器输出端引出噪声信号；

对所述噪声信号进行前置放大，得到前置放大信号；

采集所述前置放大信号，计算得到1/f噪声电压功率谱幅值。

3.根据权利要求1所述的一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，所述利用所述无损筛选回归预测方程，测试单个电阻器的抗辐照性能，对同批电阻器进行筛选，包括：

获取待筛选电阻器的电阻值和低频噪声幅值；

基于所述电阻值和低频噪声幅值，利用所述回归预测方程，得到此电阻器的电阻值漂移量预测值；

将所述电阻值漂移量预测值和此批电阻器的电阻漂移容限进行比较，如果所述预测值在此类电阻器的电阻值漂移容限之内，则认为此电阻器为合格产品；反之，如果所述预测值不在此类电阻器的电阻值漂移容限之内，则认为此电阻器为不合格产品。

4.一种电阻器抗辐照能力无损筛选装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；

第二获取单元，用于获取所述作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；

计算单元，用于基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；

线性回归方程建立单元，对数据进行预处理，以所述1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以所述电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；

无损筛选回归预测方程建立单元，用于基于所述系数向量，建立所述信息参数、1/f噪声电压功率谱幅值和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；

测试单元，用于预测单个电阻器件的抗辐照性能，对同批其他电阻器器件进行筛选。