[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法、液晶面板在审

专利信息
申请号: 201710058106.0 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN106847927A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 黄贵华 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/417;H01L21/336;H01L21/34;H01L27/12
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司44304 代理人: 孙伟峰,顾楠楠
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制作方法 液晶面板
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管,包括基板(1),其特征在于:所述基板(1)上沉积有图案化的源极(2)以及公共电极(3),在源极(2)以及公共电极(3)上覆盖有衬垫层(4),所述源极(2)远离公共电极(3)的一侧裸露在衬垫层(4)外形成裸露部(5),在衬垫层(4)上沉积漏极并图案化形成像素电极(6),所述像素电极(6)位于源极(2)的一侧、裸露部(5)以及基板(1)位于源极(2)的一侧上依次沉积有图案化的半导体层(8)、栅极绝缘层(9)以及图案化的栅极(10),从而形成截面为阶梯结构的半导体沟道(7),所述像素电极(6)通过半导体层(8)与源极(2)连接。

2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述漏极以及衬垫层(4)的坡度角为45-60度。

3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述衬垫层(4)采用SiOx或SiNx制成。

4.根据权利要求1或2所述的薄膜晶体管,起特征在于:所述衬垫层(4)的厚度为300-1200nm。

5.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述半导体层(8)为IGZO或a-Si材料中的一种。

6.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述源极(2)及漏极(6)由一层金属层构成或由多层金属层构成的金属叠层结构。

7.根据权利要求1或5所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述源极(2)及漏极(6)的厚度为100-400nm。

8.一种薄膜晶体管的制作方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤一、在基板(1)上分别沉积源极(2)及公共电极(3),并对源极(2)和公共电极(3)分别进行图案化;

步骤二、在源极(2)以及公共电极(3)上沉积衬垫层(4)以及漏极,所述源极(2)远离公共电极(3)的一侧通过对衬垫层(4)以及漏极进行刻蚀,使源极(2)远离公共电极(3)的一侧形成裸露部(5),对漏极图形化后形成像素电极(6);

步骤三、在基板(1)上位于源极(2)的一侧、源极(2)的裸露部(5)以及像素电极(6)位于源极(2)的一侧上沉积有半导体层(8),对半导体层(8)进行图案化后在半导体层(8)上沉积栅极绝缘层(9);在栅极绝缘层(9)上沉积栅极(10)并进行图案化,得到截面为阶梯结构的半导体沟道(7),所述源极(2)通过半导体层(8)与像素电极(6)连接。

9.根据权利要求8所述的薄膜晶体管的制作方法,其特征在于:所述步骤一以及步骤二中漏极以及衬垫层(4)的坡度角为45-60度。

10.一种液晶面板,包括TFT阵列基板,其特征在于:所述TFT阵列基板包括如权利要求1-7任意一项所述的薄膜晶体管。

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