[发明专利]一千千伏GIS设备主回路电阻测试方法在审
申请号: | 201710039653.4 | 申请日: | 2017-01-19 |
公开(公告)号: | CN107064643A | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
发明(设计)人: | 杨剑;杨雄;闫铖;张泽宇;邓辉;席成员;李程;瞿纲举 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网湖南省电力公司;湖南省送变电工程公司 |
主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08 |
代理公司: | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙)43001 | 代理人: | 邓淑红 |
地址: | 100031 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一千 千伏 gis 设备 回路 电阻 测试 方法 | ||
技术领域
本发明具体涉及一种一千千伏GIS设备主回路电路测试方法。
背景技术
主回路电阻值是GIS设备安装、检修和质量验收的一项重要数据,其目的是检查电气设备安装质量和回路的完整性,以及发现因制造不良或运行中因振动而产生的机械松动等原因造成的接触不良等缺陷,避免了因接触不良而导致事故,是保证设备安全稳定运行的重要手段。
1000kV GIS设备主回路母线的结构如图1所示:母线中心为导线相1,母线外侧为金属封闭层3,中心导线与外侧的金属封闭层之间为SF6气体。而且,1000kV GIS设备母线长度一般都会达到二、三百米以上;一般母线在敷设时都是分段敷设,在段与段的连接处(即分段连接处2)通过螺钉等装置进行固定连接,从而使得设备的母线达到要求的长度。
目前在1000kV GIS设备母线的主回路电阻值测试中,随着母线安装长度的增加,需要不断增加测试线的长度(至少需要几十米,甚至百米以上)。同时,要把测试电流升至300A,所使用的电流测试线的截面积也要相应增大。但是,使用长度长、截面粗的测试线,在测试线中通过300A的大电流时,增加了导线通电时的损耗,使测试电流无法达到国标要求的数值,直接影响了仪器正常工作的载流能力,在一定程度上增大了电阻测试的误差。而且还会造成测试线展放和收线的过程中易缠绕、测试过程中交叉作业、测试时间长、增大测试难度、增加人力等问题,给测试带来极大不便。
目前常用的测试方法如图2~图4所示:图2所示为使用电流测试线作为通流导体进行测试,但是该方法存在如下缺点:测试接线长度不能满足现场施工要求,测试长度增加后电流无法升至国标要求的300A;测试回路增长引起功耗增大,测试线发热严重;测试线展放和收线的过程中易缠绕、增大测试难度;测试过程中交叉作业多、测试时间长、需要更多人员参与测试。
图3所示为使用接地导通回路作为通流导体进行测试,但是该方法存在如下缺点:GIS设备安装施工过程中接地网也正在施工,存在需测试部位地网未连接不能导通的情况;接地网状况复杂,会出现分流,影响测试结果的正确性;受现场施工环境干扰,如果测试同时有电焊等大电流作业,对测试结果影响较大。
图4所示为使用相邻相作为通流导体进行测试,但是该方法存在如下缺点: 500kV及以上GIS设备为分相配置,三相没有封装在同一个外壳之中;使用此方法测试其中一相主回路电阻时,需将另一相封装打开,并将恒温防尘棚搭建在开口处。要达到测试条件需配置足够数量的恒温防尘棚,尤其是1000kV GIS设备对于防尘和干燥的要求很高,现场难以实现;相邻相属于已经封装好的设备,部分已经充装SF6气体,要将其临时打开做测试用途的话,工艺流程复杂;现场施工过程中GIS设备A、B、C各相安装时间先后顺序有差异。存在需测试点相邻相仍没有安装到位的状况。
发明内容
本发明的目的在于提供一种成本低廉、测试方法简单可靠,而且精度满足国标要求的一千千伏GIS设备主回路电路测试方法。
本发明提供的这种一千千伏GIS设备主回路电路测试方法,包括如下步骤:
将测试装置的电流注入端的正极和电压检测端的正极同时连接到待测一千千伏GIS设备主回路母线的导线相首端的步骤;
将测试装置的电压检测端的负极连接到待测一千千伏GIS设备主回路母线的导线相末端的步骤;
在待测一千千伏GIS设备主回路母线的末端,将母线的导电相和母线外侧的金属封闭层短接的步骤;
将测试装置的电流注入端的负极连接到最靠近待测一千千伏GIS设备主回路母线的导线相首端的分段连接处的步骤;
测量装置获取检测电压,从而计算待测一千千伏GIS设备主回路电阻的步骤。
所述的一千千伏GIS设备主回路电路测试方法还包括如下步骤:
根据得到的待测一千千伏GIS设备主回路电阻阻值判断待测一千千伏GIS设备主回路性能的步骤。
所述的测量装置测量待测一千千伏GIS设备主回路电阻,具体为采用四线法测量待测一千千伏GIS设备主回路的电阻。
本发明提供的这种一千千伏GIS设备主回路电路测试方法,通过将被测一千千伏GIS设备主回路外侧的金属封闭层作为导电体进行电路电阻的测量,因此本发明提供的测试方法不受被测的设备长度的影响,而且减少了大量大线径的测试用导线,成本低廉;本发明测试方法连线简单,实施极为方便快捷,而且方法可靠,测试过程、测试要求和测试精度完全能够满足国标要求。
附图说明
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