[发明专利]一种多偏振片装校装置及装校方法有效

专利信息
申请号: 201710037360.2 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN106842473B 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 王培纲;梁科锋;殷德奎;王海英 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G02B7/00 分类号: G02B7/00
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 偏振 片装校 装置 校方
【说明书】:

发明公开了一种多偏振片装校装置及装校方法。该装置包括待装偏振片、精密转台、调制器、探测器、聚焦透镜、上镜筒、基准偏振片、反射棱镜、准直光源、下镜筒、底板、测微平行光管、毫伏表,具体是指一种通过光电检测的方法、实现多个偏振片高精度装配的装置。该装置的优点是:偏振片透光轴安装精度能够定量测量,且精度能够达到角分级。利用此装置不仅可以精确确定一个偏振片的位置,还可以实现同一组件上多个偏振片以任意要求的角度准确定位。

技术领域

本发明涉及偏振检测仪器的装配和校正技术,具体是指一种通过光电检测的方法、实现多个偏振片高精度装配的装置。

背景技术

偏振是光的一种特性,偏振探测与成像技术可应用于大气探测、海洋监测、资源调查、复杂背景中的目标识别等方面。偏振片是偏振探测仪器的基本光学器件,用于偏振辐射的检测和分析。目前在已知偏振片透光轴位置的情况下,如何提高偏振片的安装精度是一个必须解决的问题。

市售的偏振片多在其外围刻一条细线以标明透光轴方向,为使透光轴与设计位置相一致,一般采用刻线对齐法。由于刻线有一定的宽度,加之刻线的对齐与观察者的主观判断有关,往往造成较大误差,一般超过一度。它直接影响偏振测量仪器的精度和准确度,特别是同一组件上有多个偏振片需要准确定位时更是如此。

发明内容

本发明是一种偏振片高精度装校装置及装校方法,主要是解决多个偏振片的高精度安装定位问题。

该装置主要包括待装偏振片2、精密转台3、调制器4、探测器6、聚焦透镜8、上镜筒7、基准偏振片9、反射棱镜10、准直光源11、支架1 12-1、支架2 12-2、支架3 12-3、下镜筒13、底板14、测微平行光管15、毫伏表16。如图2(c),由点光源发出的光经准直透镜11后输出平行光束,光束依次经过基准偏振片9、调制器4、待装偏振片2、会聚透镜8到达光电探测器6。探测器6输出信号经电路5连接到毫伏表16,给出P1、P2透光轴成一定角度时的实时信号。其中P1、P2的夹角由转台3精确控制。

所述的下镜筒13用螺钉固定在底板14上,准直光源11用螺纹压圈固定在下镜筒13内;

所述的精密转台3固定在下镜筒13上端面,基准偏振片9用螺钉固定在精密转台3上的中心位置、反射棱镜10用硅胶固定在精密转台3上;

所述的上镜筒7内安装有聚焦透镜8和探测器6及连接探测器的测量电路板5;上镜筒7通过支架和螺钉固定在底板14上;

所述的调制器4固定安装在精密转台3和上镜筒7之间;

所述的滤光轮2固定安装在上镜筒7和调制器4之间;

下镜筒13、精密转台3、滤光轮2中待装偏振片安装孔和上镜筒7的中心处在一条光轴线上;

所述的测微平行光管15对准反射棱镜10使测微平行光管的光能够通过反射棱镜返回,以确定精密转台3的转角基准零位和待装偏振片的角度;

所述的准直光源11产生的准直光信号经过基准偏振片9、调制器4和滤光轮2中的待装偏振片检偏,最后经聚焦透镜8照射到探测器6上,测量电路板 5 和毫伏表16显示测量结果。

所述的精密转台3为MRS300型旋转台,控制精度3″,测微平行光管15 测角精度为1″。

多偏振片装校方法步骤如下:

1)用定位销定位滤光轮2位置;

2)放置偏振片于安装孔径内,偏振片的透光轴与机械安装参考位置一致,并用少量硅胶固定,将此位置定义为透光轴的基准零位;

3)旋转精密转台3,使待装偏振片与基准偏振片正交,记录毫伏表示数;

4)转动精密转台3,使基准偏振片左右各旋转相同的不超过20°的角度,分别记录毫伏表示数;

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