[发明专利]一种存储器数据分层校验方法有效
| 申请号: | 201710035619.X | 申请日: | 2017-01-17 | 
| 公开(公告)号: | CN106776100B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 | 
| 发明(设计)人: | 陈为伟;张增安;林荣峰;吴敬玉;郭思岩 | 申请(专利权)人: | 上海航天控制技术研究所 | 
| 主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07 | 
| 代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 周乃鑫;周荣芳 | 
| 地址: | 200233 *** | 国省代码: | 上海;31 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 存储器 数据 分层 校验 方法 | ||
1.一种存储器数据分层校验方法,其特征在于,包含以下步骤:
对存储器的所有空间进行读操作,如果发现存储器单位翻转异常,将读取的该单位翻转异常地址的数据作为操作数回写到该单位翻转异常地址,完成对存储器单位翻转异常的修复,如果发现存储器多位翻转异常,将该多位翻转异常的地址本身作为操作数回写到该多位翻转异常地址,并标记该多位翻转异常地址,对该多位翻转异常地址中存储的三份完全相同的数据进行“三取二”检查,将“三取二”检查结果作为操作数回写到该多位翻转异常地址。
2.如权利要求1所述的存储器数据分层校验方法,其特征在于,在将“三取二”检查结果作为操作数回写到该多位翻转异常地址后,进行修复确认操作,完成对存储器多位翻转异常的修复;
所述的修复确认操作是指:检查该多位翻转异常地址中的数据内容是否为该多位翻转异常地址本身。
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